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原文传递一种瞬态吸收检测系统和方法

专利名称：	一种瞬态吸收检测系统和方法
摘要：	本发明实施例提供一种瞬态吸收检测系统和方法，其中，通过脉冲泵浦激光激发样品；采用超短脉冲激光作为探测光并通过一组反射镜和分束镜获得空间分离的多个具有固定延时的平行探测脉冲；通过脉冲延时发生器控制泵浦光和探测光之间的同步和相对延时；通过分束镜将平行的多个探测脉冲分光；一部分探测光通过离轴抛物镜聚焦到测试样品上的泵浦光作用区域，再通过另一个离轴抛物镜对探测光进行收集和准直，另一部分探测光以同样方式聚焦穿过另一块参考样品；分别将这两部分探测光通过透镜聚焦于独立的电荷耦合器件上；最后通过数据采集设备分析每个探测子脉冲的对应光强，获得材料在泵浦激光作用下不同延时时刻的瞬态吸收强度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	四川;51
申请人：	中国工程物理研究院激光聚变研究中心
发明人：	耿锋;李亚国;许乔;刘志超;王度;欧阳升;金会良;袁志刚;张清华;王健
专利状态：	有效
申请号：	CN201811044523.0
公开号：	CN109115707A
代理机构：	北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371
代理人：	吴开磊
分类号：	G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	610000 四川省成都市武侯区科园一路3号
主权项：	1.一种瞬态吸收检测系统，其特征在于，所述系统包括泵浦光源、探测光源、脉冲延时发生器、第一反射镜、第二反射镜、第一分束镜、第二分束镜、第一离轴抛物镜、第二离轴抛物镜、第三离轴抛物镜、第四离轴抛物镜、第一透镜、第二透镜、第一电荷耦合器件和第二电荷耦合器件；所述脉冲延时发生器与所述泵浦光源和所述探测光源分别连接以用于控制由所述泵浦光源发射的泵浦光与由所述探测光源发射的探测光同步；所述泵浦光源的出光侧朝向所述第一反射镜以使得由所述泵浦光源发射的泵浦光经所述第一反射镜反射后入射至测试样品；所述探测光源的出光侧朝向所述第二反射镜，所述第一分束镜位于所述第二反射镜与所述第二分束镜之间，所述第一离轴抛物镜和所述第二离轴抛物镜分别位于所述第二分束镜的两侧，所述第三离轴抛物镜位于所述第一透镜和所述第一离轴抛物镜之间，且所述测试样品位于所述第一离轴抛物镜和所述第三离轴抛物镜之间，所述第一透镜位于所述第三离轴抛物镜和所述第一电荷耦合器件之间，所述第四离轴抛物镜位于所述第二离轴抛物镜与所述第二透镜之间，且参考样品位于所述第四离轴抛物镜和所述第二离轴抛物镜之间，所述第二透镜设置于所述第四离轴抛物镜和所述第二电荷耦合器件之间；其中，所述第二反射镜用于将由所述探测光源发射的探测光反射至所述第一分束镜，所述分束镜用于对入射的探测光进行分光后形成多个探测脉冲序列并入射至所述第二分束镜，所述第二分束镜用于对入射的多个探测脉冲序列进行分光形成由该第二分束镜透射至所述第一离轴抛物镜的第一探测子光以及由该第二分束镜反射至所述第二离轴抛物镜的第二探测子光，所述第一离轴抛物镜对入射的第一探测子光进行聚焦后反射至所述测试样品进行样品激发后继续入射至所述第三离轴抛物镜，所述第三离轴抛物镜用于对入射的第一探测子光进行收集后入射至所述第一透镜，并经由该第一透镜聚焦后入射至所述第一电荷耦合器件进行光斑成像；所述第二离轴抛物镜对入射的第二探测子光进行聚焦后反射至所述参考样品进行样品激发后继续入射至所述第四离轴抛物镜，所述第四离轴抛物镜用于对入射的第一探测子光进行收集后入射至所述第二透镜，并经由该第二透镜聚焦后入射至所述第二电荷耦合器件进行光斑成像。
所属类别：	发明专利