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分析仪、吸收特性计算电路、以及分析方法
| 专利名称： | 分析仪、吸收特性计算电路、以及分析方法 |
| 摘要： | 本发明涉及分析仪、吸收特性计算电路、以及分析方法。一种分析仪，包括：量子级联激光器，其将周期驱动信号转换成激光；光接收器，其接收已通过样品的激光并输出取决于激光的强度检测信号；以及数据计算部分，其输出表示样品的吸收特性的信息。数据计算部分包括：延迟单元，其通过对参考驱动信号施加时间延迟来产生延时波形；加法单元，其通过将延时波形和检测信号相加来产生对称波形；时间反转单元，其通过对对称波形进行时间反转来产生时间反转波形；以及减法单元，其产生时间反转波形与对称波形之间的波形差。数据计算部分通过改变时间延迟来重复计算波形差，直到波形差最小。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 住友电气工业株式会社 |
| 发明人： | 福冈隆 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810643461.9 |
| 公开号： | CN109115715A |
| 代理机构： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
| 代理人： | 鲁山;孙志湧 |
| 分类号： | G01N21/3504(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 日本大阪府大阪市 |
| 主权项： | 1.一种分析仪，包括：量子级联激光器，所述量子级联激光器接收包括周期波形的驱动信号，并将所述驱动信号转换成中红外范围内的激光；光接收器，所述光接收器接收已通过样品的所述激光，并输出取决于所述激光的强度的检测信号；以及数据计算部分，所述数据计算部分基于所述检测信号输出表示所述样品的吸收特性的信息，所述数据计算部分包括：延迟单元，所述延迟单元通过对参考驱动信号的波形和所述检测信号的波形中的一个施加与另一个波形相比的时间延迟来产生延时波形；加法单元，所述加法单元通过将所述延时波形和所述另一个波形相加来产生对称波形；时间反转单元，所述时间反转单元通过反转所述对称波形的时间依赖性来产生时间反转波形；以及减法单元，所述减法单元产生所述时间反转波形与所述对称波形之间的差分波形，其中，在所述延迟单元中施加的时间延迟被改变的同时，所述数据计算部分重复地计算所述差分波形，并且输出当所述差分波形的绝对值最小化时的所述对称波形或从所述对称波形获得的信息，作为表示所述样品的吸收特性的信息。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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