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原文传递一种ATP荧光检测拭子

专利名称：	一种ATP荧光检测拭子
摘要：	本实用新型公开了一种ATP荧光检测拭子，包括：存储管、破口管、密封管；所述的存储管包括瓶身、锥形瓶颈、二级卡扣、瓶嘴，所述的瓶嘴采用可刺破膜材料密封；所述破口管包括卡槽、存储管衔接腔、刺破腔、密封管衔接腔；所述的卡槽为二级卡槽，与存储管的二级卡扣间距相匹配，刺破腔部分位于存储管衔接腔内，部分位于密封管衔接腔内；位于密封管衔接腔内的刺破腔的长度大于第二级卡槽到存储管衔接腔和密封管衔接腔衔接处的距离。本实用新型的存储管、破口管、密封管的密切配合，无论从开模生产，至检测使用，都实用性强；较之前同类型的拭子，密封性能好，可以避免运输和储存过程中的液体泄漏问题，解决了常用采样拭子一直存在的问题。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	苏州贝和医疗科技有限公司
发明人：	张海柱;殷旦
专利状态：	有效
申请号：	CN201721827593.4
公开号：	CN208313831U
代理机构：	常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231
代理人：	滕诣迪
分类号：	G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	215513 江苏省苏州市常熟市经济技术开发区四海路11号科创园
主权项：	1.一种ATP荧光检测拭子，其特征在于包括：存储管、破口管、密封管；所述的存储管包括瓶身、锥形瓶颈、二级卡扣、瓶嘴，所述的瓶嘴采用可刺破膜材料密封；所述破口管包括卡槽、存储管衔接腔、刺破腔、密封管衔接腔；所述的卡槽为二级卡槽，与存储管的二级卡扣间距相匹配，刺破腔部分位于存储管衔接腔内，部分位于密封管衔接腔内；位于密封管衔接腔内的刺破腔的长度大于第二级卡槽到存储管衔接腔和密封管衔接腔衔接处的距离；位于密封管衔接腔内的刺破腔的顶端位于第一级卡槽和第二级卡槽之间；所述的刺破腔位于存储管衔接腔内的部分为锥形结构。
所属类别：	实用新型