专利名称: |
一种用于设计航天器区域重访轨道的方法 |
摘要: |
本发明涉及一种用于设计航天器区域重访轨道的方法,包括:S1.定义航天器星下点轨迹在行星表面的重访区域和重访时间间隔;S2.根据航天器的任务需求获取所述航天器飞行轨道的轨道参数;S3.根据所述轨道参数、所述重访区域和所述重访时间间隔获取所述航天器的星下点轨迹在重访区域的升交点经度范围和升交点经度间隔;S4.将所述升交点经度范围和所述升交点经度间隔进行对比,获取所述升交点经度范围大于所述升交点经度间隔时的所述轨道参数,根据所述轨道参数生成航天器区域重访轨道。通过采用升交点经度范围与升交点经度间隔相匹配的方法确定区域重访轨道的轨道要素,降低了轨道要素之间的约束,能够快速确定满足区域重访要求的轨道根数范围。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京空间技术研制试验中心 |
发明人: |
陈伟跃;黄震;张亚锋;张治国 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201810907472.3 |
公开号: |
CN109110159A |
代理机构: |
北京谨诚君睿知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11538 |
代理人: |
陆鑫;延慧 |
分类号: |
B64G1/24(2006.01)I;B;B64;B64G;B64G1 |
申请人地址: |
100094 北京市海淀区友谊路104号院 |
主权项: |
1.一种用于设计航天器区域重访轨道的方法,包括:S1.定义航天器星下点轨迹在行星表面的重访区域和重访时间间隔;S2.根据航天器的任务需求获取所述航天器飞行轨道的轨道参数;S3.根据所述轨道参数、所述重访区域和所述重访时间间隔获取所述航天器的星下点轨迹在重访区域的升交点经度范围和升交点经度间隔;S4.将所述升交点经度范围和所述升交点经度间隔进行对比,获取所述升交点经度范围大于所述升交点经度间隔时的所述轨道参数,根据所述轨道参数生成航天器区域重访轨道。 |
所属类别: |
发明专利 |