专利名称: |
基于冠层结构与冠层光谱的水稻植株全氮估测方法 |
摘要: |
基于冠层结构与冠层光谱的水稻植株全氮估测方法,它涉及一种水稻植株全氮速测方法,属于水稻植株全氮测量技术领域。本发明的目的是为了解决现有实验室水稻植株全氮测试方法具有破坏性、时效性差的技术问题。本发明方法如下:水稻冠层光谱测定、水稻冠层结构参数采集及含氮量测定、数据处理、构建归一化植被指数NDVI、建立模型水稻植株全氮含量×水稻植株株高×水稻植株茎数=0.6998e4.0599NDVI,根据待测水稻的NDVI及对应的水稻植株株高高度和水稻植株茎数计算获得待测水稻植株全氮含量。本发明利用植被指数与植株全氮含量之间的关系,达到对植株全氮含量的速测。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
黑龙江;23 |
申请人: |
东北农业大学 |
发明人: |
张新乐;于滋洋;张忠臣;刘焕军;李厚萱 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201810857268.5 |
公开号: |
CN109115951A |
代理机构: |
哈尔滨市文洋专利代理事务所(普通合伙) 23210 |
代理人: |
何强 |
分类号: |
G01N33/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N33 |
申请人地址: |
150030 黑龙江省哈尔滨市香坊区木材街59号 |
主权项: |
1.基于冠层结构与冠层光谱的水稻植株全氮估测方法,其特征在于基于冠层结构与冠层光谱的水稻植株全氮估测方法按照以下步骤进行:步骤一:在水稻的移栽后、分蘖期、拔节孕穗期,测定不同氮肥水平水稻冠层光谱,每个不同氮肥肥力水平采集6条光谱曲线,对6条光谱曲线进行算数平均,获得不同施氮水平下水稻的实际反射光谱数据;步骤二:在水稻的移栽后、分蘖期、拔节孕穗期的对应时期采集水稻植株样本,量取水稻样本株高及确定每株样本茎数后,测量水稻植株全氮含量;步骤三:采用9点加权移动平均法对水稻样本的实际反射光谱数据进行平滑去噪处理;再利用高斯模型对去噪后的实际反射光谱数据进行10nm光谱重采样,获得每个肥力水平下水稻样本的基准反射光谱数据;步骤四:构建归一化植被指数NDVI,所述 其中Rnir为近红外波段反射率,Rred为可见光红光波段反射率。步骤五:利用NDVI建立水稻植株全氮含量、水稻植株株高与水稻植株茎数乘积的指数模型表达式为:水稻植株全氮含量×水稻植株株高×水稻植株茎数=0.6998e4.0599NDVI步骤六:根据待测水稻的NDVI及对应的水稻植株株高高度和水稻植株茎数计算获得待测水稻植株全氮含量,即完成基于冠层结构与冠层光谱的水稻植株全氮估测。 |
所属类别: |
发明专利 |