专利名称: |
一种γ光子散射符合恢复成真符合的方法 |
摘要: |
本发明公开了γ光子散射符合恢复成真符合的方法,包括步骤:步骤一:对探测装置检测得到的单次散射响应线进行分类;步骤二:对于单次散射响应线,通过探测器检测到的γ光子能量和散射角之间的关系,并根据探测器对的位置计算出各单次散射响应线中γ光子发生散射的实际位置;步骤三:得到检测到γ光子能量为511KeV的探测器与γ光子发生散射的实际位置的连线的延长线所经过的探测器,并将两个探测器的连线作为真符合线;步骤四:重复步骤二和步骤三,将一对探测器上所有的单次散射响应线恢复成真符合线。步骤五:重复步骤四,把探测器环所有的单次散射都恢复成真符合响应线。本发明在消除散射的同时不减少响应线的数量。从而得到了更好的图像重建质量。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
南京航空航天大学 |
发明人: |
郭瑞鹏;赵敏;姚敏;徐君;刘兼唐 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811024536.1 |
公开号: |
CN109115809A |
代理机构: |
南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 |
代理人: |
唐绍焜 |
分类号: |
G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
210016 江苏省南京市秦淮区御道街29号 |
主权项: |
1.一种γ光子散射符合恢复成真符合的方法,其特征在于:包括步骤:步骤一:对探测装置检测得到的单次散射响应线进行分类;将一对探测器同时检测到能量均为511KeV的γ光子对,记录为一个真符合事件;将一对探测器中一个探测器检测到γ光子能量为511KeV,另一个探测器检测到γ光子能量小于511KeV,则记录为单次散射响应线;步骤二:对于单次散射响应线,通过探测器检测到的γ光子能量和散射角之间的关系,并根据探测器对的位置计算出各单次散射响应线中γ光子发生散射的实际位置;步骤三:得到检测到γ光子能量为511KeV的探测器与γ光子发生散射的实际位置的连线的延长线所经过的探测器,并将两个探测器的连线作为真符合线;步骤四:重复步骤二和步骤三,将一对探测器上所有的单次散射响应线恢复成真符合线;步骤五:重复步骤四,将探测环所有的单次散射响应线恢复成真符合线。 |
所属类别: |
发明专利 |