专利名称: |
一种检测玻璃铂铑缺陷发生条件的试验方法 |
摘要: |
本发明公开了一种检测玻璃铂铑缺陷发生条件的试验方法,本发明使用耐高温的坩埚,对玻璃和溢流砖尖进行加热,然后进行保温,观察在什么条件下溢流砖尖表面会有铂铑缺陷发生,然后在生产过程中尽量避免发生铂铑缺陷的情况,在不同的温度和湿度条件下观察和检测溢流砖尖处铂铑缺陷发生。从而为生产线工艺参数设置提供依据,减少产线不良率发生。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
陕西;61 |
申请人: |
彩虹显示器件股份有限公司 |
发明人: |
徐莉华 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201810861204.2 |
公开号: |
CN109142413A |
代理机构: |
西安通大专利代理有限责任公司 61200 |
代理人: |
徐文权 |
分类号: |
G01N23/2251(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
712021 陕西省咸阳市秦都区玉泉西路西延段 |
主权项: |
1.一种检测玻璃铂铑缺陷发生条件的试验方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、在坩埚(3)中加入固态玻璃样片及溢流砖尖(2),将坩埚(3)放入高温炉内进行加热,直至玻璃样片溶解,溢流砖尖(2)浸没在玻璃液中;步骤2、将高温炉的炉内湿度调节至试验设计的湿度,分别将若干放置有玻璃片和溢流砖尖(2)的坩埚(3)加热并加热至设计的试验温度后进行保温,保温时间按照试验设计的保温时间执行;步骤3、将放置有玻璃片和溢流砖尖(2)的坩埚(3)冷却至室温后得到玻璃样品和溢流砖尖(2),对溢流砖尖(2)进行切割处理,用显微镜观察溢流砖尖(2)砖尖界面上有无铂铑缺陷发生;步骤4、切割后的溢流砖尖(2)进行精确制样,在扫描电子显微镜下进行疑似铂铑缺陷物检测,确认残留在玻璃中的颗粒物的成份。 |
所属类别: |
发明专利 |