专利名称: |
一种硅胶按键外观检测装置及系统 |
摘要: |
本实用新型提供一种硅胶按键外观检测装置及系统,其中,一种硅胶按键外观检测装置,包括摄像头、探头、回收机械手臂、控制器和下压装置;摄像头、下压装置和回收机械手臂沿硅胶按键传输方向依次排列;探头连接于下压装置底部;探头由若干探针构成;若干探针构成的形状大小与硅胶按键的形状大小相适配;摄像头、若干探针、回收机械手臂和下压装置均与控制器通讯连接。本实用新型另外提供的硅胶按键外观检测系统,采用如上任意所述的硅胶按键外观检测装置。本实用新型提供的硅胶按键外观检测装置及系统,结构简单、实用,不仅能够对硅胶按键上表面的缺陷进行检测,还能对侧面断裂、破损情况进行检测;使检测更加全面,提高了硅胶按键产品的质量。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
福建;35 |
申请人: |
普禄达(厦门)电子科技有限公司 |
发明人: |
王光荣 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201821132975.X |
公开号: |
CN208334221U |
代理机构: |
厦门加减专利代理事务所(普通合伙) 35234 |
代理人: |
陈文香 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
361116 福建省厦门市同安区西柯镇洪塘头村美人山中路289号 |
主权项: |
1.一种硅胶按键外观检测装置,其特征在于,包括摄像头(30)、探头(50)、回收机械手臂(60)、控制器(70)和下压装置(80);其中:所述摄像头(30)、下压装置(80)和回收机械手臂(60)沿硅胶按键(20)传输方向依次排列;所述探头(50)连接于所述下压装置(80)底部;所述探头(50)由若干探针(51)构成;若干探针(51)构成的形状大小与硅胶按键(20)的形状大小相适配;所述摄像头(30)、若干探针(51)、回收机械手臂(60)和下压装置(80)均与控制器(70)通讯连接。 |
所属类别: |
实用新型 |