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原文传递一种测量高量程浊度的光路结构

专利名称：	一种测量高量程浊度的光路结构
摘要：	本实用新型公开了一种测量高量程浊度的光路结构，所述光路结构包括：光源、透镜、前向散射接收单元、比色瓶、90°散射接收单元、后向散射接收单元和透射接收单元，比色瓶内装有待测样品。本实用新型所提供的光路结构，通过四个接收单元特殊的光路设计，隔离相互影响以及杂散光的干扰，使各接收单元接收到最原始的初始信号，根据样品浊度与各信号之间的关系，实现对高量程浊度样品的测量，解决了现有浊度仪量程不高的问题。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京华科仪科技股份有限公司
发明人：	阮小东;陈云龙;边宝丽;李蔚;刘少飞
专利状态：	有效
申请号：	CN201820932901.8
公开号：	CN208334194U
代理机构：	北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311
代理人：	田明;任晓航
分类号：	G01N21/51(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100076 北京市大兴区西红门镇金业大街10号
主权项：	1.一种测量高量程浊度的光路结构，其特征在于，所述光路结构包括：通过连接器件固定的光源(1)、透镜(2)、前向散射接收单元(3)、比色瓶(4)、90°散射接收单元(5)和后向散射接收单元(6)，以及透射接收单元(7)，所述比色瓶(4)内装有待测样品；所述光源(1)和所述透镜(2)均安装在所述比色瓶(4)的一侧，所述透射接收单元(7)安装在所述比色瓶(4)的另一侧，所述光源发出的光依次穿过所述透镜的中心、所述比色瓶(4)的中心和所述透射接收单元(7)的中心，形成主光路；所述前向散射接收单元(3)、所述90°散射接收单元(5)和所述后向散射接收单元(6)沿同一直线依次排列布置，该直线与所述主光路平行，所述透镜(2)的中心与所述比色瓶(4)的中心形成的连线与所述比色瓶(4)的中心与所述90°散射接收单元(5)的中心形成的连线之间的夹角为90°，所述前向散射接收单元(3)位于靠近所述透镜(2)一侧，所述后向散射接收单元(6)位于靠近所述透射接收单元(7)一侧。
所属类别：	实用新型