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基于OCT和数字图像技术自动测量材料折射率的方法
| 专利名称： | 基于OCT和数字图像技术自动测量材料折射率的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于光学相干断层扫描技术（OCT）和数字图像技术自动测量材料折射率的方法。本折射率测量方法是基于光程匹配原理。首先，利用OCT对空置载物台进行扫描获得基线的断层数字图像；接着对待测样品进行OCT扫描获得样品的断层数字图像；再将基线图与样品图进行数字图像合成,形成不规则表面扫描图，利用数字图像交互技术，测量实现样品边界和基线的点的选择和点之间的距离测量，该距离值代入原理公式，计算分析，即得到样品折射率。本发明对于各类固体材料，特别是表面不规则的高折射固体材料的折射率测量提供了大范围、数字化、快速测量的新方案和新技术。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 广州医科大学 |
| 发明人： | 傅洪波;张建 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810995078.X |
| 公开号： | CN109164063A |
| 分类号： | G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 511436 广东省广州市番禺区新造镇广州医科大学 |
| 主权项： | 1.一种基于OCT和数字图像技术自动测量材料折射率的方法，其特征在于：包括以下步骤：a、首先，利用OCT对空置载物台进行扫描获得基线的断层数字图像；b、保持OCT设备位置不变、载物台的高度不变，在载物台上放置待测样品，并对待测样品进行OCT扫描获得样品的断层数字图像；c、将基线图与样品图通过数字图像技术合成一个图，并构建出xy坐标系，然后利用数字图像交互技术沿着扫描线方向依次提取样品上边界坐标、基线坐标和样品下边界坐标；d、将三个坐标点间距离参数值代入原理公式计算分析得结果。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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