专利名称: |
一种近场电磁波测量系统 |
摘要: |
本实用新型公开了一种近场电磁波测量系统,二维平面移动系统、上位机、矢量网络分析仪、升降台、水平调节装置、近场测量探头;上位机与矢量网络分析仪相连,矢量网络分析仪的输入端与近场测量探头相连,输出端与样品相连,样品放置在水平调节装置上;水平调节装置固定在升降台上;升降台固定在二维平面坐标移动系统上;近场测量探头固定于样品上方空间。本实用新型既可用于波导(谐振腔、光子晶体、负折射材料等)样品测量,又可以用于在开放环境中的天线样品的测量,仅需方便的调整部分部件即实现,可以有效的解决实验成本过高问题,同时用于多种样品的测量还可以有效的节约实验时间和空间。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳凌波近场科技有限公司 |
发明人: |
闫焕磊;时西航;许弘毅;高振 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201821068960.1 |
公开号: |
CN208350680U |
代理机构: |
杭州求是专利事务所有限公司 33200 |
代理人: |
郑海峰 |
分类号: |
G01N22/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N22 |
申请人地址: |
518049 广东省深圳市福田区多丽工业园二栋405室 |
主权项: |
1.一种近场电磁波测量系统,其特征在于包括:二维平面移动系统、上位机、矢量网络分析仪、升降台、水平调节装置、近场测量探头;上位机与矢量网络分析仪相连,矢量网络分析仪的输入端通过射频连接线与近场测量探头相连,矢量网络分析仪的输出端通过射频连接线与样品相连,样品放置在水平调节装置上;水平调节装置固定在升降台上;升降台固定在二维平面坐标移动系统上;近场测量探头固定于样品上方空间;所述的二维平面移动系统通过上位机控制带动升降台在X轴和Y轴方向移动,升降台用于调节水平调节装置的高度。 |
所属类别: |
实用新型 |