专利名称: |
光谱仪及水质检测装置 |
摘要: |
本发明涉及一种光谱仪及一种水质检测装置,上述光谱仪包括:壳体、第一准直镜、第一光栅、第二准直镜、第二光栅、成像反射镜和阵列探测器,所述第一准直镜、所述第一光栅、所述第二准直镜和所述第二光栅分别角度可调地安装在所述壳体内,所述壳体上设有用于第一光束入射的第一光入射口和用于第二光束入射的第二光入射口,所述第一准直镜、所述第一光栅和所述成像反射镜沿所述第一光束的光路依次设置,以使所述第一光束在所述阵列探测器上形成第一光谱;所述第二准直镜、所述第二光栅和所述成像反射镜沿所述第二光束的光路依次设置,以使所述第二光束在所述阵列探测器上形成第二光谱,上述光谱仪可有效将对各路光束检测所形成的各光谱图分离且生产成本低,上述水质检测装置具有较高的检测准确率且生产成本较低。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
广州市怡文环境科技股份有限公司 |
发明人: |
王翰林;付秋玥 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811256076.5 |
公开号: |
CN109187428A |
代理机构: |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人: |
刘培培 |
分类号: |
G01N21/39(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
510730 广东省广州市经济技术开发区南云三路12号 |
主权项: |
1.一种光谱仪,其特征在于,所述的光谱仪包括:壳体、第一准直镜、第一光栅、第二准直镜、第二光栅、成像反射镜和阵列探测器,所述第一准直镜、所述第一光栅、所述第二准直镜和所述第二光栅分别角度可调地安装在所述壳体内,所述壳体上设有用于第一光束入射的第一光入射口和用于第二光束入射的第二光入射口,所述第一准直镜、所述第一光栅和所述成像反射镜沿所述第一光束的光路依次设置,以使所述第一光束在所述阵列探测器上形成第一光谱;所述第二准直镜、所述第二光栅和所述成像反射镜沿所述第二光束的光路依次设置,以使所述第二光束在所述阵列探测器上形成第二光谱。 |
所属类别: |
发明专利 |