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一种用于微流控芯片检测的检测装置
| 专利名称： | 一种用于微流控芯片检测的检测装置 |
| 摘要： | 本发明涉及检测技术领域，具体公开了一种用于微流控芯片检测的检测装置，其中，所述用于微流控芯片检测的检测装置包括：壳体、温控模块、控制模块、检测模块和提升组件，所述温控模块、控制模块、检测模块和提升组件均设置在所述壳体内，所述温控模块、检测模块和提升组件均与所述控制模块连接，所述提升组件与所述温控模块连接，所述温控模块与所述检测模块连接，所述检测模块预设待检测样品。本发明提供的用于微流控芯片检测的检测装置具有操作简单、自动化程度高的优势。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 无锡科智达科技有限公司 |
| 发明人： | 朱富春;陈俊飞;李国平;郝效禹;韩绪春 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811202903.2 |
| 公开号： | CN109187347A |
| 代理机构： | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 |
| 代理人： | 曹祖良;陈丽丽 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 214112 江苏省无锡市新吴区金城东路333-4-101 |
| 主权项： | 1.一种用于微流控芯片检测的检测装置，其特征在于，所述用于微流控芯片检测的检测装置包括：壳体、温控模块、控制模块、检测模块和提升组件，所述温控模块、控制模块、检测模块和提升组件均设置在所述壳体内，所述温控模块、检测模块和提升组件均与所述控制模块连接，所述提升组件与所述温控模块连接，所述温控模块与所述检测模块连接，所述检测模块预设待检测样品；所述提升组件用于在所述控制模块的控制下带动所述温控模块进行升降运动；所述检测模块能够在所述控制模块的控制下旋转带动待检测样品分离并进入检测槽，以及在所述待检测样品被温度处理后所述检测模块能够在所述控制模块的控制下向所述待检测样品发出检测光，并接收所述待检测样品经过所述检测光照射后形成的出射光；所述温控模块能够在所述控制模块的控制下对所述待检测样品进行温度控制；所述控制模块用于获取所述出射光的数据信号，并对所述出射光的数据信号进行数据分析处理，得到检测结果。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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