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一种提高低温光致发光测试精度的实验方法
| 专利名称： | 一种提高低温光致发光测试精度的实验方法 |
| 摘要： | 本发明属于光电器件测试技术领域，涉及一种提高低温光致发光测试精度的实验方法；该方法中涉及装置是由真空罩、防热辐射屏、待测样品、样品架、凸透镜、滤光片、单色仪、入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成，利用防热辐射屏出射角大于90度的出射窗口收集待测样品发出的光致发光，从而达到提高光致发光测试精度的目的。本发明具有操作简单、效率高、提高测试精度、节省测试时间等特点。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 新疆;65 |
| 申请人： | 中国科学院新疆理化技术研究所 |
| 发明人： | 艾尔肯·阿不都瓦衣提;雷琪琪;莫敏·塞来;马丽娅·黑尼;赵晓凡;慎小宝;许焱;李豫东;郭旗 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811241280.X |
| 公开号： | CN109187349A |
| 代理机构： | 乌鲁木齐中科新兴专利事务所(普通合伙) 65106 |
| 代理人： | 张莉 |
| 分类号： | G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 830011 新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市北京南路40号附1号 |
| 主权项： | 1.一种提高低温光致发光测试精度的实验方法，其特征在于：该方法中涉及装置是由真空罩、防热辐射屏、待测样品、样品架、凸透镜、滤光片、单色仪入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成，待测样品（2）固定在样品架（3）上，样品架（3）固定在低温恒温器系统样品台上，在低温恒温器系统样品台上安装防热辐射屏（13）和真空罩（10），防热辐射屏（13）侧壁上设有一个入射窗口（15）和一个出射角度大于90度的长方形出射窗口（14），样品架（3）与单色仪（8）之间设有两个凸透镜（5），单色仪（8）一端入口处放置滤光片（7），单色仪（8）另一端出口处设有探测器（9），具体操作按下列步骤进行：a、该方法使用标准光学光致发光测试系统；b、将待测样品（2）固定在样品架（3）上，样品架（3）固定在低温恒温器系统样品台上，安装防热辐射屏（13）和真空罩（10），确保系统密封性；c、调整光路使得入射激光（1）和经待测样品（2）反射的反射激光（4）通过真空罩（10）、入射窗口（11）和出射窗口（12）中心线，确保入射激光（1）和反射激光（4）光束高度与两个凸透镜（5）中心线和单色仪（8）入口中心高度保持一致；d、对低温恒温器系统进行降温至300K‑10K，达到测试温度后，等待五分钟使低温恒温器系统达到稳定状态，在单色仪（8）入口放置滤光片（7），使入射激光（1）打在待测样品（2）上，从待测样品（2）发出来的光致发光（6）通过两个凸透镜（5）后聚焦在单色仪（8）入口，经过滤光片（7）进入单色仪（8），并由连接在单色仪（8）出口的探测器（9）接收。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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