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一种全量程物体表面光谱反射率测试方法
| 专利名称： | 一种全量程物体表面光谱反射率测试方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种全量程物体表面反射率测试方法，该方法首先利用100％反射率标定基准片确定其指定波长的信号强度值E1n和归一系数C1n，其次利用低反射率标定基准片确定其指定波长的信号强度值为Ekn和归低系数Ckn，测定工件实际的可见光区指定波长测试点的信号强度En后，根据En所落入的范围确定赋予C1n和Ckn的采信权重，求出归标系数Cn，最终确定指定波长位置Rn。测试人员实现利用基准标定片确定归一系数和归低系数，并进一步确定归标系数Cn。整个过程测试数据误差小，适用全量程，操作方便快捷。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 深圳市三海科技有限公司 |
| 发明人： | 战永刚;战捷;程明望 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811082019.X |
| 公开号： | CN109187376A |
| 代理机构： | 深圳市神州联合知识产权代理事务所(普通合伙) 44324 |
| 代理人： | 周松强 |
| 分类号： | G01N21/27(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 518000 广东省深圳市龙岗区南湾街道上李朗社区甘李路中盛科技园6号厂房6楼A |
| 主权项： | 1.一种全量程物体表面光谱反射率测试方法，其特征在于，该方法包括有以下步骤：S1：确定归一系数：将100％反射率标定基准片放置在光谱仪的载物架上，测得该基准片的可见光区指定波长测试点的信号强度值E1n，并根据E1n推算出归一系数C1n；S2：确定归低系数：将低反射率标定基准片放置在光谱仪的载物架上，测得该基准片可见光区指定波长测试点的信号强度值为Ekn，并根据Ekn推算出归低系数Ckn；S3：测定工件实际的可见光区指定波长测试点的信号强度：将实际待测工件放置在光谱仪载物架上，并测得该实际待测工件可见光区指定波长测试点的信号强度值En；S4：确定归标系数：定义W1是该指定波长测试点采信C1n的权重，定义Wk为该指定波长测试点采信Ckn的权重，且W1+Wk＝1；定义Eul为采信上限，定义Ell为采信下限，且0 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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