专利名称: |
太赫兹成像仪 |
摘要: |
本发明公开了一种THz成像仪,包括:THz源,用于产生预设频率的THz波;液晶显示屏,朝向THz波发射的方向设置,与THz源呈预设角度设置,液晶显示屏将THz源发射的THz波反射至待测物体;至少一个THz强度计,与待测物体并行设置,用于接收通过了待测物体的THz波;成像装置,分别与液晶显示屏和THz强度计连接,用于根据接收到的THz波及液晶显示屏内液晶分子取向分布函数对待测物体进行重构,或根据接收到的THz波及液晶显示屏反射的THz波分布函数对待测物体进行重构。其只需使用到THz强度计,无需使用THz成像阵列,就能实现对待测物体的成像,且可以利用成熟的液晶面板生长制作技术,结构简单,体积小,成本低。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
贵州;52 |
申请人: |
贵州民族大学 |
发明人: |
刘江涛;黄金保;蔡勋明;罗胜耘;范梦慧;王代强 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811193566.5 |
公开号: |
CN109187418A |
代理机构: |
南昌新天下专利商标代理有限公司 36115 |
代理人: |
施秀瑾 |
分类号: |
G01N21/3581(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
550025 贵州省贵阳市花溪区花溪大道 |
主权项: |
1.一种太赫兹成像仪,其特征在于,所述太赫兹成像仪中包括:太赫兹源,用于产生预设频率的太赫兹波;液晶显示屏,朝向太赫兹波发射的方向设置,与太赫兹源呈预设角度设置,所述液晶显示屏将太赫兹源发射的太赫兹波反射至待测物体;至少一个太赫兹强度计,与待测物体并行设置,用于接收通过了待测物体的太赫兹波;成像装置,分别与液晶显示屏和太赫兹强度计连接,用于根据接收到的太赫兹波及液晶显示屏内液晶分子取向分布函数对待测物体进行重构,或根据接收到的太赫兹波及液晶显示屏反射的太赫兹波分布函数对待测物体进行重构。 |
所属类别: |
发明专利 |