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原文传递 支柱绝缘子孔泡检测方法及装置、终端、存储介质
专利名称: 支柱绝缘子孔泡检测方法及装置、终端、存储介质
摘要: 本发明实施例提供支柱绝缘子孔泡检测方法,沿轴线方向选取若干个位置,并在每一位置处与轴线相交的截平面圆周上获得透射点,采用太赫兹波测量透射点的透射波形;检测透射点的功率谱密度谱;获取透射点的第一平均孔径,获取支柱绝缘子在截平面上的孔径标准差;获取截平面对应位置处的第二平均孔径,获取支柱绝缘子沿轴线方向的孔径标准差;根据第一平均孔径、支柱绝缘子在截平面的孔径标准差以及支柱绝缘子沿轴线方向的孔径标准差,评估所述支柱绝缘子孔泡状态。本发明还提供一种支柱绝缘子孔泡检测装置、终端装置与存储介质,利用本发明实施例可对支柱绝缘子中填充材料的平均孔径进行无损直接检测,评估支柱绝缘子的整体性能。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 清华大学深圳研究生院
发明人: 梅红伟;管兮远;王黎明
专利状态: 有效
申请号: CN201810986029.X
公开号: CN109187419A
代理机构: 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311
代理人: 曾昭毅;郑海威
分类号: G01N21/3586(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城清华校区
主权项: 1.一种支柱绝缘子孔泡检测方法,其特征在于,所述方法包括:步骤1,在支柱绝缘子上沿轴线方向选取若干个位置,并在支柱绝缘子对应的每一位置处与轴线相交的截平面圆周上每隔预设角度获得一个透射点,采用太赫兹波测量所述透射点的透射波形;步骤2,检测每一所述透射点的功率谱密度谱;步骤3,根据所述功率谱密度谱获取每一所述透射点的第一平均孔径,并根据每一截平面上测得的若干所述第一平均孔径获取所述支柱绝缘子在截平面上的孔径标准差;步骤4,根据所述透射点的第一平均孔径获取每一截平面对应位置处的第二平均孔径,并根据若干个所述第二平均孔径获取支柱绝缘子沿轴线方向的孔径标准差;步骤5,根据所述第一平均孔径、所述支柱绝缘子在截平面的孔径标准差以及所述支柱绝缘子沿轴线方向的孔径标准差,评估所述支柱绝缘子孔泡状态。
所属类别: 发明专利
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