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光学法颗粒状物质测定装置及方法
| 专利名称： | 光学法颗粒状物质测定装置及方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光学法颗粒状物质测定装置及方法，其中，该装置包括：采集装置用于采集大气；切割头用于将大气切割成预设粒径范围的粒子；容器用形成气体通道使切割成预设粒径范围的粒子分别进入到左容器和右容器内；捕集装置用于对过滤后的粒子进行带状滤纸捕集；光源用于对带状滤纸交替发射特定的波长区域内的光线；检出装置用于接收光源发射的不同波长的光线，并通过检出器对不同波长的反射光和透过光进行检出；处理器用于通过检出器检出的电压值，计算捕获到带状滤纸上粒子中OC/EC浓度。该装置无需对采集的样品进行热分解，无需进行预处理对样品无破坏，测定更为准确；无需载气，降低了运行成本，使得装置更为简便。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京纪本科技有限公司;清华大学 |
| 发明人： | 马永亮;贺克斌;段凤魁;纪本岳志;黄涛;李世红;胡运星 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811259718.7 |
| 公开号： | CN109211744A |
| 代理机构： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
| 代理人： | 张润 |
| 分类号： | G01N15/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 100012 北京市朝阳区双营路11号院3号楼5层3单元601 |
| 主权项： | 1.一种光学法颗粒状物质测定装置，其特征在于，包括：采集装置，用于采集大气；切割头，用于将所述大气切割成预设粒径范围的粒子；容器，用于形成气体通道使所述切割成预设粒径范围的粒子分别进入到左容器和右容器内；捕集装置，用于对所述容器内的多个粒子进行带状滤纸捕集；光源，用于对所述带状滤纸交替发射特定的波长区域内的光线；检出装置，用于接收所述光源发射的不同波长的光线，并通过检出器对不同波长的反射光和透过光进行检出；以及处理器，用于通过所述检出器检出的电压值，计算捕获到所述带状滤纸上粒子中OC/EC浓度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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