专利名称: |
一种太赫兹频段材料反射系数定标测量装置及方法 |
摘要: |
本发明涉及一种太赫兹频段材料反射系数定标测量装置及方法,通过太赫兹波透射测量分别获取有无定标板的太赫兹波透射电场强度,根据获取的太赫兹波透射电场强度得到定标板的透射系数,进而得到定标板的复折射率;通过太赫兹波反射测量获取定标板和被测材料板在同一入射角度下分别反射的太赫兹波反射电场强度;根据定标板的复折射率和太赫兹波反射测量的入射角度,计算定标板的反射系数;结合定标板和被测材料板反射的太赫兹波反射电场强度与反射系数之间的比例关系,计算被测材料板的反射系数。该装置及方法能够在无法准确计量太赫兹脉冲功率的情况下,有效度量各种材料反射性能,快速、便捷地获取被测材料板在太赫兹频段的反射系数和反射率。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京环境特性研究所 |
发明人: |
孙金海;蔡禾;张景;郑岩;张旭涛;刘永强;巢增明 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811219793.0 |
公开号: |
CN109211842A |
代理机构: |
北京格允知识产权代理有限公司 11609 |
代理人: |
周娇娇 |
分类号: |
G01N21/55(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
100854 北京市海淀区永定路50号 |
主权项: |
1.一种太赫兹频段材料反射系数定标测量装置,其特征在于,包括:定标板、透射测量模块、反射测量模块和计算模块;所述透射测量模块用于通过太赫兹波透射测量获得有无所述定标板的太赫兹波透射电场强度;所述反射测量模块用于通过太赫兹波反射测量获取所述定标板和被测材料板在同一入射角度下反射的太赫兹波反射电场强度;所述计算模块用于根据有无所述定标板的太赫兹波透射电场强度得出所述定标板的复折射率,并结合所述定标板和被测材料板反射的太赫兹波反射电场强度之比和入射角度,解算所述被测材料板在该入射角度下的反射系数和反射率。 |
所属类别: |
发明专利 |