专利名称: |
一种基于Ce(III)/AgNCs复合纳米簇材料检测硫离子的方法 |
摘要: |
本发明公开了一种基于Ce(III)/AgNCs复合纳米簇材料检测硫离子的方法,利用Ce(III)离子能够有效地增强银纳米簇(AgNCs)的荧光发射,形成Ce(III)/AgNCs复合体系。当往该体系中加入微量的S2‑时,由于S2‑与Ce(III)/AgNCs复合体系中的Ag原子发生作用,从而破坏了Ce(III)/AgNCs复合体系的原有结构导致Ce(III)/AgNCs复合体系的荧光强度猝灭,淬灭后的荧光强度与S2‑离子的浓度成线性关系,据此建立了一种检测S2‑离子的方法,该方法操作简单,能快速实时的对S2‑进行痕量检测。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
安徽;34 |
申请人: |
安徽师范大学 |
发明人: |
鲍慧娟;刘金水;宋波 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811057173.1 |
公开号: |
CN109211856A |
代理机构: |
芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 |
代理人: |
尹婷婷 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
241000 安徽省芜湖市弋江区花津南路安徽师范大学 |
主权项: |
1.一种基于Ce(III)/AgNCs复合纳米簇材料检测硫离子的方法,其特征在于,包括以下步骤:A、将AgNCs纳米簇溶液与Ce(III)离子溶液混合,反应5min;B、分别向步骤A得到的混合溶液中加入不同浓度的S2‑溶液,调节pH为7.0,并用去离子水稀释定容,搅拌反应10分钟;C、测量上述各组溶液的荧光强度;D、以S2‑浓度C为X轴,对应的425nm处的荧光强度F为Y轴作图,得到S2‑浓度与荧光强度之间的线性方程,根据线性方程可计算出任意荧光强度F所对应的S2‑浓度。 |
所属类别: |
发明专利 |