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一种用ICP-OES测定钨渗铜中铜元素含量的方法
| 专利名称： | 一种用ICP-OES测定钨渗铜中铜元素含量的方法 |
| 摘要： | 本发明属于理化检测领域，具体涉及一种用ICP‑OES测定航天用钨渗铜中铜元素含量的方法，包括下述步骤：(1)制备样品溶液，(2)配置工作曲线溶液，(3)ICP‑OES检测，在设定的ICP光谱仪工作条件下，依次测定空白溶液和工作曲线中铜元素的光谱强度，建立工作曲线；将制备的样品溶液引入ICP光谱仪，测定铜元素所对应的发射光强度，根据工作曲线确定样品中铜元素的含量。本发明用ICP‑OES法测定钨渗铜中铜元素含量的方法的建立，可以实现对钨渗铜中铜元素的快速有效检测，能够为钨渗铜材料的质量控制提供方法依据，具有实际应用价值。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京星航机电装备有限公司 |
| 发明人： | 张剑军;苏晓文;夏炎 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811323571.3 |
| 公开号： | CN109211881A |
| 代理机构： | 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 |
| 代理人： | 赵晓宇 |
| 分类号： | G01N21/73(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 100074 北京市丰台区云岗东王佐北路9号 |
| 主权项： | 1.一种用ICP‑OES测定钨渗铜中铜元素含量的方法，其特征在于，包括下述步骤：(1)制备样品溶液称取0.1g样品置于三角瓶中，精确至0.0001g，加入5ml硫酸，3g硫酸铵，高温加热发烟后，样品与酸反应，待反应完全，冷却，加少量水，出现浑浊后，加入0.2g氟化钠，加水冲洗，滴加氨水溶液至无混浊，转移至100ml容量瓶中，摇匀待测；(2)配置工作曲线溶液根据待测元素含量范围，在空白试液中加入一定量的液体标准物质，配置不少于3个标准溶液于100ml容量瓶中，定容、摇匀，组成系列标准溶液，系列标准溶液中待测元素含量应从低到高形成梯度，线性范围包含待检元素含量；(3)ICP‑OES检测在设定的ICP光谱仪工作条件下，依次测定空白溶液和工作曲线中铜元素的光谱强度，建立工作曲线；将制备的样品溶液引入ICP光谱仪，测定铜元素所对应的发射光强度，根据工作曲线确定样品中铜元素的含量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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