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原文传递一种矿物工艺粒度的测量方法

专利名称：	一种矿物工艺粒度的测量方法
摘要：	本发明公开了一种矿物工艺粒度的测量方法，包括：获取矿物颗粒图像，并采用图像处理软件对所述矿物颗粒图像进行处理，从而确定出所述矿物颗粒图像中矿物颗粒的二维形状、矿物颗粒的面积和矿物颗粒的最大弦长；其中，所述矿物颗粒的最大弦长是指矿物颗粒的二维形状上任意两个转择点连线中的最大线段长；以所述矿物颗粒的面积作为等效椭圆的面积，以所述矿物颗粒的最大弦长作为等效椭圆的长径，利用椭圆面积公式计算出等效椭圆的短径，即为矿物工艺粒度。本发明不仅能够快速测量出矿石光片中所有目的矿物颗粒的粒度，而且测量准确性高、可重复性好，能够更加全面准确地反映矿物颗粒的粒度特征。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京矿冶科技集团有限公司
发明人：	肖仪武;李磊;付强;方明山;叶小璐
专利状态：	有效
申请号：	CN201810842809.7
公开号：	CN109238928A
代理机构：	北京凯特来知识产权代理有限公司 11260
代理人：	郑立明;李闯
分类号：	G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	100160 北京市丰台区南四环西路188号总部基地十八区23号楼
主权项：	1.一种矿物工艺粒度的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤A、获取矿物颗粒图像，并采用图像处理软件对所述矿物颗粒图像进行处理，从而确定出所述矿物颗粒图像中矿物颗粒的二维形状、矿物颗粒的面积和矿物颗粒的最大弦长；其中，所述矿物颗粒的最大弦长是指矿物颗粒的二维形状上任意两个转择点连线中的最大线段长；步骤B、以所述矿物颗粒的面积作为等效椭圆的面积，以所述矿物颗粒的最大弦长作为等效椭圆的长径，采用以下公式计算出等效椭圆的短径，即为矿物工艺粒度：b＝4S/(π*a)其中，b等效椭圆的短径，S表示等效椭圆的面积，a表示等效椭圆的长径。
所属类别：	发明专利