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一种含酰胺基团荧光探针对Hg2+的荧光检测及使用方法
| 专利名称： | 一种含酰胺基团荧光探针对Hg2+的荧光检测及使用方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种含酰胺基团的Hg2+荧光探针及使用方法。本发明是要解决现有的识别汞离子的荧光探针主体合成繁琐、水溶解性差、适用pH范围窄、选择性不高，易受其他阳离子（Au3+，Fe2+，Fe3+和Cu2+）干扰的问题。我们发现本发明的探针在HEPES水溶液中能够与Hg2+形成稳定的络合物，使主体探针荧光淬灭。在实验条件下，常见的金属离子对Hg2+检测没有明显的干扰。对Hg2+检测的适用pH值为2.0~11.8，响应时间为14 min，Hg2+的检出限能够达到0.65 nM。本发明的含酰胺基团的荧光探针可在水溶液中荧光检测Hg2+，绿色环保，具有极高的应用价值。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 黑龙江;23 |
| 申请人： | 齐齐哈尔大学 |
| 发明人： | 王丽艳;武江雷;杨佳;马文辉;赵冰;向韦佳;杨超 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810061512.7 |
| 公开号： | CN109239026A |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 161006 黑龙江省齐齐哈尔市文化大街42号 |
| 主权项： | 1.一种含酰胺基团的荧光探针对Hg2+的荧光检测及使用方法，其特征在于：本发明的荧光探针可以实现在水溶液中荧光检测Hg2+，与Hg2+形成稳定的络合物，并且不受其他金属离子Al3+, Zn2+, Ag+, Ca2+, Mg2+, Fe3+, Pb2+, Na+, Ba2+, Ni2+, K+, Cu2+, Cr3+, Cd2+, Co2+的干扰；该方法在pH值为2.0~11.8范围内的水溶液中进行，响应时间14 min，检出限为0.65 nM。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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