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一种可测量多种颗粒物质量浓度的方法和系统
| 专利名称： | 一种可测量多种颗粒物质量浓度的方法和系统 |
| 摘要： | 本发明提供一种可测量多种颗粒物质量浓度的方法，包括如下步骤：获得大量设定直径的颗粒，并得到包含了上述颗粒的被测气体，用光电传感器测量被测气体中上述颗粒，得到对应的测量值和与所述设定直径对应的电压阈值；计算出其它直径所对应的电压阈值；对光电传感器设置测量不同颗粒物直径的电压阈值；用标准仪器测量上述被测气体中小于或等于设定直径的所有颗粒物的质量浓度，用光电传感器按照所述设定直径的颗粒对应的电压阈值测量被测气体，得到信号值，然后根据质量浓度和信号值算出光电传感器的测量参数；用测量参数对光电传感器进行设定，结合之前计算的不同颗粒物直径所对应的电压阈值，可用光电传感器测量不同颗粒物的质量浓度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉四方光电科技有限公司 |
| 发明人： | 刘志强;熊友辉;何涛;杨伟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201710571323.X |
| 公开号： | CN109253953A |
| 代理机构： | 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 |
| 代理人： | 郝明琴 |
| 分类号： | G01N15/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园凤凰园三路3号 |
| 主权项： | 1.一种可测量多种颗粒物质量浓度的方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：获得大量设定直径的颗粒，并得到包含了上述颗粒的被测气体，用光电传感器测量被测气体中上述颗粒，得到对应的测量值和与所述设定直径对应的电压阈值；步骤2：根据颗粒的设定直径和对应的电压阈值计算出其它直径所对应的电压阈值；步骤3：对光电传感器按照计算出的电压阈值设置测量不同颗粒物直径的电压阈值；步骤4：用标准仪器测量上述被测气体中小于或等于设定直径的所有颗粒物的质量浓度，用光电传感器按照所述设定直径的颗粒对应的电压阈值测量被测气体，得到小于或等于设定直径的所有颗粒物在所对应的电压阈值下的信号值，然后根据质量浓度和信号值算出光电传感器的测量参数；步骤5：用测量参数对光电传感器进行设定，结合之前计算的不同颗粒物直径所对应的电压阈值，可用光电传感器测量不同类型、不同直径的颗粒物的质量浓度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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