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一种荧光探针法测定表面活性物质临界胶束浓度的方法
| 专利名称： | 一种荧光探针法测定表面活性物质临界胶束浓度的方法 |
| 摘要： | 本发明涉化学分析技术领域，具体为一种荧光探针法测定表面活性物质临界胶束浓度的方法。本发明方法采用n‑B18H22为荧光探针物质，发现阴离子表面活性剂SDS能增强n‑B18H22的荧光。在最佳条件下,荧光强度与SDS的浓度分别在0‑8.2×10‑3mol/L及8.2×10‑3mo/L‑3.27×10‑2mol/L范围内分段成良好的线性关系，曲线的拐点对应的表面活性剂浓度即为其临界胶束浓度(CMC)，据此，建立了本发明的测定CMC的简单荧光方法。结果表明由该法测定的CMC与已报道值符合，说明方法的可行性与准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 华南师范大学 |
| 发明人： | 谭春华;张林娜;陈洁;黄旭光;蒙红云 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201810873598.3 |
| 公开号： | CN109270035A |
| 代理机构： | 广州容大专利代理事务所(普通合伙) 44326 |
| 代理人： | 刘新年 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 510000 广东省广州市番禺区外环西路378号华南师范大学信息光电子科技学院 |
| 主权项： | 1.一种荧光探针法测定表面活性物质临界胶束浓度的方法，其特征在于，所述方法中的荧光探针物质为n‑B18H22。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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