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一种适用于材料拉伸试验的位移测量装置及试验机
| 专利名称： | 一种适用于材料拉伸试验的位移测量装置及试验机 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种适用于材料拉伸试验的位移测量装置，包括上下两个固定台，还包括两个及以上数量的直线位移传感器，所述直线位移传感器在拉伸过程中探测发生的位移且与分析设备信号连接。还提供一种适用于材料拉伸试验的试验机，采用本实用新型所述的位移测量装置。本实用新型中的位移测量装置及试验机能很好的满足材料拉伸试验中全过程位移测量的需求，能够获得准确的材料应力‑应变全过程曲线，不采用引伸计，解决了引伸计测量法中需提前松开引伸计和不能测得应力‑应变全过程曲线的问题，避免了试样断裂时引伸计被损坏，简化了材料拉伸试验的操作步骤；使用范围广，不受材料的尺寸限制或断裂伸长率的大小限制，可以用于大尺寸材料及断裂伸长率大的拉伸试验中的位移测量。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京交通大学 |
| 发明人： | 祝文君;强伟乐;井国庆;黄刚 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201820440378.7 |
| 公开号： | CN208459149U |
| 代理机构： | 北京驰纳智财知识产权代理事务所(普通合伙) 11367 |
| 代理人： | 孙海波 |
| 分类号： | G01N3/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N3 |
| 申请人地址： | 100044 北京市海淀区西直门外上园村3号北京交通大学-畅园4号楼1403室 |
| 主权项： | 1.一种适用于材料拉伸试验的位移测量装置，包括上下两个固定台，其特征在于：还包括两个及以上数量的直线位移传感器，所述直线位移传感器在拉伸过程中探测发生的位移且与分析设备信号连接。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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