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一种用于测量运动颗粒粒径的全息实时测量方法及装置
| 专利名称： | 一种用于测量运动颗粒粒径的全息实时测量方法及装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于测量运动颗粒粒径的全息实时测量方法，包括：片激光扩束系统产生片激光，并照射到运动颗粒；片激光经过颗粒的散射光形成物光，未经颗粒的片激光作为参考光，物光与参考光发生干涉形成一维全息条纹，进行记录；对记录的一维全息条纹形成的全息图进行重建，得到颗粒图像，根据颗粒图像中的像素数量和大小计算得到颗粒粒径。本发明还公开了一种用于测量运动颗粒粒径的全息实时测量装置，所述全息实时测量装置包括：片激光扩束系统，线阵相机和全息数据处理单元，所述片激光扩束系统包括激光光源和柱面透镜。本发明提供的全息实时测量方法及装置通过降低采集与重建数据维度减少数据量可以实现对颗粒粒径的实时和快速监测。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 浙江大学 |
| 发明人： | 吴迎春;吴学成;高翔;陈玲红;邱坤赞;骆仲泱;岑可法;管文洁;金其文 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811454688.5 |
| 公开号： | CN109297874A |
| 代理机构： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 |
| 代理人： | 胡红娟 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 310013 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号 |
| 主权项： | 1.一种用于测量运动颗粒粒径的全息实时测量方法，包括以下步骤：(1)片激光扩束系统产生片激光，并照射到运动颗粒；(2)片激光经过颗粒的散射光形成物光，未经颗粒的片激光作为参考光，物光与参考光发生干涉形成一维全息条纹，进行记录；(3)对记录的一维全息条纹形成的全息图进行重建，得到颗粒图像，根据颗粒图像中的像素数量和大小计算得到颗粒粒径。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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