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原文传递自动校准β射线法颗粒物监测仪

专利名称：	自动校准β射线法颗粒物监测仪
摘要：	本发明公开了一种自动校准β射线法颗粒物监测仪，其装置主机包括：上抽气通道、下抽气通道、压紧装置、走纸组件、滤纸支撑及β射线探测机构、自动校准机构，上抽气通道及下抽气通道的对接处形成测试孔位，压紧装置套于上抽气通道上，并可用于抬升或下压测试孔位，走纸组件的滤纸带通过测试孔位，并对颗粒物进行富集，滤纸支撑及β射线探测机构设于测试孔位正下方处，自动校准机构包括：主控制系统、驱动装置及校准膜支架及校准膜，主控系统控制驱动装置驱动装载有校准膜的校准膜支架往测试孔位方向伸，使其中一个校准膜位于测试孔位处，通过β射线探测机构进行校准。本发明可有效实现无人员到现场就可按需进行自动校准。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳国技仪器有限公司
发明人：	李波;黄宝进;曾永龙;朱平;郭冰
专利状态：	有效
申请号：	CN201710606155.3
公开号：	CN109297875A
分类号：	G01N15/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	518101 广东省深圳市宝安区西乡街道桃花源科技创新园C栋孵化楼二层B、C
主权项：	1.一种自动校准β射线法颗粒物监测仪，包括：颗粒物切割器及装置主机，其特征在于，所述装置主机包括：上抽气通道、下抽气通道、压紧装置、走纸组件、滤纸支撑及β射线探测机构、自动校准机构，所述上抽气通道及下抽气通道的对接处形成测试孔位，所述压紧装置套于所述上抽气通道上，并可用于抬升或下压所述测试孔位，所述走纸组件的滤纸带通过所述测试孔位，并对颗粒物进行富集，所述滤纸支撑及β射线探测机构设于所述测试孔位正下方处，所述自动校准机构包括：主控制系统、驱动装置及校准膜支架及校准膜，所述校准膜支架上装载有多个校准膜，当所述压紧装置对所述测试孔位进行抬升后，所述主控系统控制所述驱动装置驱动装载有所述校准膜的校准膜支架往所述测试孔位方向伸，使其中一个所述校准膜位于所述测试孔位处，当所述压紧装置对所述其中一个所述校准膜进行压紧后，通过所述滤纸支撑机及β射线探测机构中的β射线探测机构进行校准。
所属类别：	发明专利