专利名称: |
图案结构物的检测装置及检测方法 |
摘要: |
根据本发明的一观点,提供一种图案结构物的检测方法,该方法包括:从波动源向包括图案区域的样本照射波动的步骤,所述图案区域上形成有位于基板上且具有一定图案的结构物;利用信息收集部在所述图案区域中收集基于多重衍射而形成的散斑(speckle)信息的步骤;以及将所述收集的信息与基准信息进行比较,并分析在所述图案区域上形成的结构物形态的异常与否的步骤。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
韩国;KR |
申请人: |
韦务拓客公司;韩国科学技术院 |
发明人: |
金英德;朴钟瓒;朴龙根 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201780034467.X |
公开号: |
CN109313139A |
代理机构: |
北京青松知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11384 |
代理人: |
郑青松 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
韩国大田广域市 |
主权项: |
1.一种图案结构物的检测方法,其特征在于,该方法包括:从波动源向包括图案区域的样本照射波动的步骤,所述图案区域上形成有位于基板上且具有一定图案的结构物;利用信息收集部在所述图案区域中收集基于多重衍射而形成的散斑(speckle)信息的步骤;以及将所述收集的信息与基准信息进行比较,并分析在所述图案区域上形成的结构物形态的异常与否的步骤。 |
所属类别: |
发明专利 |