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原文传递 共聚焦近红外二区荧光寿命显微成像系统
专利名称: 共聚焦近红外二区荧光寿命显微成像系统
摘要: 本发明公开了一种共聚焦近红外二区荧光寿命显微成像系统。本发明中飞秒激光光源所发出的激光引入正置共聚焦扫描显微镜,经过扫描振镜、扫描透镜和套筒透镜后,由近红外增透物镜聚焦于样品;样品的近红外荧光二区荧光信号由同样的近红外增透物镜收集,经过套筒透镜、扫描透镜和扫描振镜,被长通二色镜分光引出系统,收集后耦合进大口径光纤,最终被光电倍增管探测转换成电信号,电信号转换成电计数信号输入计数板卡,同时计数板卡接收到来自激发光的同步脉冲信号,将其作为计时停止信号,经计算机处理后,得到样品的近红外二区荧光寿命图像和近红外二区荧光强度图像。本发明拓展出近红外二区荧光寿命成像功能,获得了更加丰富的图像信息。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 浙江;33
申请人: 浙江大学
发明人: 钱骏;虞文斌;周静
专利状态: 有效
申请号: CN201811200960.7
公开号: CN109324026A
代理机构: 杭州求是专利事务所有限公司 33200
代理人: 忻明年
分类号: G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
主权项: 1.共聚焦近红外二区荧光寿命显微成像系统,包括奥林巴斯正置共聚焦扫描显微镜、近红外二区响应的光电倍增管、近红外增透的大口径光纤、TCSPC计数板卡、大带宽的信号放大器和810nm飞秒脉冲激光光源,其特征在于:810nm飞秒激光光源所发出的激光引入奥林巴斯正置共聚焦扫描显微镜,经过扫描振镜、扫描透镜和套筒透镜后,由近红外增透物镜聚焦于样品,即纳米颗粒;纳米颗粒的近红外荧光二区荧光信号由同样的近红外增透物镜收集,经过套筒透镜、扫描透镜和扫描振镜,被长通二色镜分光引出系统,由光纤准直器收集后耦合进近红外增透的大口径光纤,最终被近红外二区响应的光电倍增管探测转换成电信号,电信号由信号放大器放大后转换成电计数信号输入TCSPC计数板卡,同时计数板卡接收到来自激发光的同步脉冲信号,将其作为计时停止信号,用以计算出所接收光子的t信息,即光子所处的激光脉冲周期的时间位置,经计算机处理后,得到样品的近红外二区荧光寿命图像和近红外二区荧光强度图像。
所属类别: 发明专利
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