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一种低维材料各向异性显微的成像方法和装置
| 专利名称： | 一种低维材料各向异性显微的成像方法和装置 |
| 摘要： | 一种低维材料各向异性显微的成像方法，基于利用非偏振分光技术的显微装置和低维材料的各向异性吸收效应，从而研究不同偏振态下低维材料表面反射光强的变化。通过自动图像获取、分析程序，采集一系列小角度间隔的角分辨偏振光学图像。逐个提取所有偏振光学图像同一像素点的最大和最小光强度值及其对应的旋转角度，并将每个像素点最大和最小光强度值的差值逐点绘制到另一张图像中，便得到了强度域的各向异性显微图像。与此同时，将每个像素点提取到的对应最大反射光强的角度值以箭头或不同颜色绘制到另一张图像中，便得到了角度域的各向异性显微图像。本发明适用于研究黑磷、二硫化铼、银纳米线、碳纳米管等不同低维材料的光学各向异性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 天津;12 |
| 申请人： | 南开大学 |
| 发明人： | 刘智波;黄凯旋;田建国 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811272361.6 |
| 公开号： | CN109342325A |
| 分类号： | G01N21/21(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 300071 天津市南开区卫津路94号 |
| 主权项： | 1.一种低维材料各向异性显微的成像方法，其特征在于能够利用材料的光学各向异性进行高分辨率高对比度的各向异性显微成像，并能快速、简单、准确、无损的同时测定大范围内样品的晶向，所述方法包括：首先将显微镜的普通分束镜更换为无偏分束镜，并根据透射谱使用滤波片，从而达到非偏振分光的目的，将需要测量的低维样品放置于物镜下，利用转台自动旋转偏振片并利用程序自动拍摄不同旋转角度下的偏振光学图像。提取每张图像相同像素点的最大和最小亮度值，并计算其差值，最后将差值按照不同的像素点依次绘制到一张图像上，得到了强度域的各向异性图像。提取每张偏振光学图像相同像素点最大亮度值所对应的旋转角度，并将角度值以箭头的形式绘制到强度域的各向异性图像中，便得到了包含晶向信息的各向异性图像。用不同颜色去标识不同取向的区域，而不是用箭头，这样便得到了角度域的各向异性图像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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