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一种基于微纳光纤环的折射率传感器及其封装方法
| 专利名称： | 一种基于微纳光纤环的折射率传感器及其封装方法 |
| 摘要： | 本发明提供一种基于微纳光纤环的折射率传感器及其封装方法，包括：腔体；基底，所述基底设置在所述腔体内；微纳光纤环，所述微纳光纤环固定在所述基底上，所述微纳光纤环表面形成有涂覆层。在本发明的基于微纳光纤环的折射率传感器，在微纳光纤环表面形成有涂覆层，能够很好地保护微纳光纤环，既增强了微纳光纤的机械性能，又隔离了外界环境的干扰，能够消除微纳光纤的降质现象，保持其稳定性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 陕西;61 |
| 申请人： | 西安电子科技大学 |
| 发明人： | 李仙丽 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811212560.8 |
| 公开号： | CN109342363A |
| 代理机构： | 北京市盈科律师事务所 11344 |
| 代理人： | 张晶 |
| 分类号： | G01N21/41(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 710071 陕西省西安市太白南路2号 |
| 主权项： | 1.一种基于微纳光纤环的折射率传感器，其特征在于，包括：腔体；基底，所述基底设置在所述腔体内；微纳光纤环，所述微纳光纤环固定在所述基底上，所述微纳光纤环表面形成有涂覆层。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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