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钻石检测中自动优化收集光谱的系统
| 专利名称： | 钻石检测中自动优化收集光谱的系统 |
| 摘要： | 本实用新型涉及光谱优化，具体涉及钻石检测中自动优化收集光谱的系统，包括皮带工作台，皮带工作台两侧分别设有显微镜物镜、光学器件，显微镜物镜前方设有激光源，光学器件后方设有CCD传感器，CCD传感器进行预采集，CCD传感器根据预采集结果对自身参数进行调整；本实用新型所提供的技术方案能够有效克服现有技术所存在的检测流程会耗费大量时间的缺陷。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 广东;44 |
| 申请人： | 金展科技（佛山）有限公司 |
| 发明人： | 沈镇康;程娟;陈江;钟达行;邓咏芝;许冠中 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201821230913.2 |
| 公开号： | CN208505902U |
| 代理机构： | 北京世誉鑫诚专利代理事务所(普通合伙) 11368 |
| 代理人： | 郭官厚 |
| 分类号： | G01N21/65(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 528308 广东省佛山市顺德区伦教街道办事处荔村村委会伦福路1-3号之六 |
| 主权项： | 1.钻石检测中自动优化收集光谱的系统，其特征在于：包括皮带工作台(3)，所述皮带工作台(3)两侧分别设有显微镜物镜(2)、光学器件(4)，所述显微镜物镜(2)前方设有激光源(1)，所述光学器件(4)后方设有CCD传感器(5)，所述CCD传感器(5)进行预采集，所述CCD传感器(5)根据预采集结果对自身参数进行调整。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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