专利名称: |
一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法 |
摘要: |
本发明公开了一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法,采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励及宽频高灵敏度接收传感器,对被检封闭壳体部件外部进行周向及径向扫描,获取主动激励/接收的电磁信息,重建被检封闭部件外部的电磁场分布,与标准部件外部测得的电磁场分布进行比较,从而得到被检封闭壳体部件内金属成份及位置的变化情况,实现封闭壳体内金属成份及位置的精确测量、快速定位。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
福建;35 |
申请人: |
爱德森(厦门)电子有限公司 |
发明人: |
林俊明 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811420830.4 |
公开号: |
CN109342505A |
分类号: |
G01N27/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
361008 福建省厦门市思明区软件园望海路23号703室 |
主权项: |
1.一种封闭壳体内金属成份及位置的无损测定方法,其特征在于:采用放置式激励线圈与接收传感器围绕被检封闭壳体部件外部环形扫查,被检封闭壳体部件沿着扫查中轴线移动的方式;或者,采用外穿式激励线圈及沿着被检封闭壳体部件外部周向阵列分布的接收传感器,被检封闭壳体部件沿着外穿式激励线圈中轴线移动的方式;采用不同脉冲宽度的电磁脉冲串激励、采用宽频高灵敏度接收传感器接收的方法,对被检封闭壳体部件外部进行周向及径向扫描,获取其电磁感应信号,重建封闭壳体外部的电磁场分布,与标准封闭壳体部件外部测得的电磁场分布进行比较,从而得出被检封闭壳体部件内部不同电导率金属材料组成的工件的金属成份及位置相对于标准封闭壳体部件的变化情况。 |
所属类别: |
发明专利 |