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原文传递 一种高硅钢薄板韧脆转变温度的测量方法
专利名称: 一种高硅钢薄板韧脆转变温度的测量方法
摘要: 本发明涉及一种高硅钢薄板韧脆转变温度的测量方法。其技术方案是:先将设定的待测高硅钢薄板试验温度范围分为n个测试温度点,n为5~10的自然数。再依次对m个组的每组3个拉伸试样分别进行拉伸实验,m=n。根据拉伸试样的原始厚度bij和断口处最小厚度b′ij得到每个拉伸试样的厚度减薄率ηij,i=1,2,...,m,j=1,2,3,然后得到第i组拉伸试样的厚度减薄率ηi。最后以测试温度点Tk为横坐标和所对应的第i组拉伸试样的厚度减薄率ηi为纵坐标,绘制拉伸试样的厚度减薄率ηi随测试温度Tk变化的曲线,k=i,当所述纵坐标为5%时所对应的测试温度点即为高硅钢薄板韧脆转变温度。本发明操作简单、成本低和测得的韧脆转变温度准确性高。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 武汉科技大学
发明人: 程朝阳;刘静;向志东;杜丽影;刘冬;卢海龙
专利状态: 有效
申请号: CN201811495826.4
公开号: CN109342213A
代理机构: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222
代理人: 张火春
分类号: G01N3/18(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N3
申请人地址: 430081 湖北省武汉市青山区和平大道947号
主权项: 1.一种高硅钢薄板韧脆转变温度的测量方法,其特征在于所述测量方法的步骤是:(1)设定待测高硅钢薄板的试验温度范围为25~550℃,将所述试验温度范围均匀地分成n个测试温度点,所述n个测试温度点的温度依次为T1、T2、…、Tn,n为5~10的自然数;(2)按照GB3076‑1982的金属薄板拉伸试验方法,将同一产品的待测高硅钢薄板制备成拉伸试样,根据n个测试温度点将所制备的拉伸试样分为m组,m=n;每组的拉伸试样为3个,共3m个拉伸试样;每个拉伸试样的编号为ij;i表示拉伸试样的编组序号数,i=1,2,…,m;j表示每组拉伸试样的序号数,j=1,2,3;(3)按所划分的n个测试温度点:先在第一个测试温度点T1的温度条件下,用拉伸试验机分别对第一组编号为11、12和13的3个拉伸试样进行拉伸实验,得到第一测试温度点T1的第一组断后试样;然后在第二个测试温度点T2的温度条件下,用拉伸试验机分别对第二组编号为21、22和23的3个拉伸试样进行拉伸实验,得到第二组断后试样;……;最后在第n个测试温度点Tn的温度条件下,用拉伸试验机分别对第m组编号为m1、m2和m3的3个拉伸试样进行拉伸实验,得到第m组断后试样;(4)测量每个拉伸试样的原始厚度bij和对应的拉伸试样断后的断口处最小厚度b′ij,则每个拉伸试样的厚度减薄率ηij为:式(1)中:bij表示第i组第j个拉伸试样的原始厚度,mm,b′ij表示第i组第j个拉伸试样断后的断口处最小厚度,mm,i表示拉伸试样的编组序号数,i=1,2,…,m,m为5~10的自然数,j表示每组拉伸试样的序号数,j=1,2,3;(5)根据每组的三个拉伸试样在对应的测试温度点Tk的厚度减薄率ηi1,ηi2,ηi3,k表示温度点的序号数,k=1,2,…,n,且k=i,则可得到在测试温度点Tk时对应的第i组拉伸试样的厚度减薄率ηi:式(2)中:ηi1表示第i组第1个拉伸试样的厚度减薄率,ηi2表示第i组第2个拉伸试样的厚度减薄率,ηi3表示第i组第3个拉伸试样的厚度减薄率,i表示拉伸试样的编组序号数,i=1,2,…,m,m为5~10的自然数;(6)以测试温度点Tk为横坐标,以在测试温度点Tk时对应的第i组拉伸试样的厚度减薄率ηi为纵坐标,绘制拉伸试样的厚度减薄率ηi随测试温度Tk变化的曲线,所述曲线即为高硅钢薄板的厚度减薄率ηi随测试温度Tk变化的曲线;其中:Tk表示第k个温度点时的温度,k=1,2,…,n,n为5~10的自然数;(7)当高硅钢薄板的厚度减薄率ηi随测试温度Tk变化的曲线的纵坐标为5%时,则对应的温度点为高硅钢薄板韧脆转变温度。
所属类别: 发明专利
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