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一种Y波导集成光学器件芯片剪切试验工装及剪切方法
| 专利名称： | 一种Y波导集成光学器件芯片剪切试验工装及剪切方法 |
| 摘要： | 一种Y波导集成光学器件芯片剪切试验工装及剪切方法，包括夹持基座和L型推刀两部分，在两个水平夹持块相对的上表面边缘设有下凹式台阶状沟槽，用来夹持不同底板厚度的器件；在下凹式台阶状沟槽的中央设有矩形槽；在两个夹持块下方的长方形基座上，设有螺纹配合的调节螺栓，通过调节螺栓可以调节夹持块的间距；同时基座用来和剪切力测试仪载台固定。L型推刀是在原有垂直推刀的基础上增加一段水平部分，水平部分呈圆柱体，这样保证了圆柱体与接触芯片的平面垂直。本发明采用带有下凹式台阶状沟槽且中央设有矩形槽的夹持基座水平或垂直夹持器件，利用L型推刀确保推刀施加力的方向与粘接面平行，使Y波导集成光学器件芯片剪切力测试结果更加准确。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京航天时代光电科技有限公司 |
| 发明人： | 相艳荣;柳建春;汪飞琴;郑大坤;杨长望;衣玲学;郑玮嘉 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811232926.8 |
| 公开号： | CN109374439A |
| 代理机构： | 中国航天科技专利中心 11009 |
| 代理人： | 胡健男 |
| 分类号： | G01N3/24(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N3 |
| 申请人地址： | 100094 北京市海淀区丰滢东路1号 |
| 主权项： | 1.一种Y波导集成光学器件芯片剪切试验工装，其特征在于包括：两个夹持块、基座、调节螺栓、推刀、测试头；两个夹持块能够在基座上沿轴向运动；两个夹持块相对的上表面边缘分别设置有相同的下凹式台阶状沟槽，两个夹持块的下凹式台阶状沟槽相对设置用于夹持Y波导集成光学器件；调节螺栓设于基座一侧，能够调节两个夹持块的间距；推刀的剪切面为平面，能够向Y波导集成光学器件施加推力。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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