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原文传递 测量装置
专利名称: 测量装置
摘要: 本发明提供一种用于检测光强度为微弱的光的测量装置。其包括对光(L)进行受光并产生信号的受光元件(21)、传递所述信号的电布线(28)、由覆盖所述受光元件(21)的导电性构件来形成的框体(24)、包括具有导电性的导电部(12)并透过光(L)的光学窗(11)、形成在连接受光元件(21)和放大器(22)的所述电布线(28a)周围的布线包围部件(23),并且,导电部(12)和框体(24)与布线包围构件(23)电连接。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 日本;JP
申请人: 株式会社理光
发明人: 桥口雅史;梁田敏雄;福岛安秀;鹰尾干彦
专利状态: 有效
申请号: CN201810859908.6
公开号: CN109387502A
代理机构: 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245
代理人: 王永伟;赵蓉民
分类号: G01N21/76(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 日本东京
主权项: 1.一种测量装置,其特征在于包括:受光元件,其对光进行受光并产生信号;框体,其由覆盖所述受光元件的导电性构件来形成;光学窗,其包括具有导电性的导电部并透过所述光;电布线,其传递所述信号,和布线包围构件,其形成在所述电布线的周围,所述导电部和所述框体与所述布线包围构件电连接。
所属类别: 发明专利
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