专利名称: |
测量装置 |
摘要: |
本发明提供一种用于检测光强度为微弱的光的测量装置。其包括对光(L)进行受光并产生信号的受光元件(21)、传递所述信号的电布线(28)、由覆盖所述受光元件(21)的导电性构件来形成的框体(24)、包括具有导电性的导电部(12)并透过光(L)的光学窗(11)、形成在连接受光元件(21)和放大器(22)的所述电布线(28a)周围的布线包围部件(23),并且,导电部(12)和框体(24)与布线包围构件(23)电连接。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
株式会社理光 |
发明人: |
桥口雅史;梁田敏雄;福岛安秀;鹰尾干彦 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201810859908.6 |
公开号: |
CN109387502A |
代理机构: |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人: |
王永伟;赵蓉民 |
分类号: |
G01N21/76(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
日本东京 |
主权项: |
1.一种测量装置,其特征在于包括:受光元件,其对光进行受光并产生信号;框体,其由覆盖所述受光元件的导电性构件来形成;光学窗,其包括具有导电性的导电部并透过所述光;电布线,其传递所述信号,和布线包围构件,其形成在所述电布线的周围,所述导电部和所述框体与所述布线包围构件电连接。 |
所属类别: |
发明专利 |