专利名称: |
一种基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法 |
摘要: |
本发明涉及一种基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法。该方法能够有效抑制增材制造过程中的温度、振动、电磁干扰等因素对检测结果准确性的影响。该方法的主要步骤包括【1】对超声波信号进行归一化、去趋势项、滤波预处理;【2】超声波信号的波速修正;【3】特征增强与数据成像;【4】缺陷识别与反馈处理。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
陕西;61 |
申请人: |
西安增材制造国家研究院有限公司 |
发明人: |
赵纪元;王彪;王琛玮;卢秉恒 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811571971.6 |
公开号: |
CN109387567A |
代理机构: |
西安智邦专利商标代理有限公司 61211 |
代理人: |
唐沛 |
分类号: |
G01N29/04(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29 |
申请人地址: |
710300 陕西省西安市鄠邑区吕公路东段西户科技企业孵化器A3楼 |
主权项: |
1.一种基于波速修正的增材制造激光超声检测数据处理方法,其特征在于,包括以下步骤:【1】对超声波信号进行归一化、去趋势项、滤波预处理;【2】超声波信号的波速修正;【2.1】离线环境标定超声波信号的“温度‑波速”曲线;【2.2】实时采集检测点温度数据;【2.3】将每一个检测点的A扫信号通过所述“温度‑波速”曲线转化成“距离‑幅值”表示;【2.4】对“距离‑幅值”表示的A扫信号进行升采样;【3】特征增强与数据成像;【3.1】采用希尔伯特包络算法对A扫信号进行特征增强;【3.2】对特征增强后的A扫信号沿一扫查方向进行重组得到B扫图像,所述B扫图像能够识别新成形层任一纵截面的缺陷;【3.3】取每一个A扫信号的峰值或者有效值,按照扫查位置数据进行重新排布,得到新成形层的C扫图像,所述C扫图像能够直观地识别新成形层内部缺陷的位置、大小以及深度;【4】缺陷识别与反馈处理。 |
所属类别: |
发明专利 |