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一种高精度颗粒物质量浓度检测装置
| 专利名称： | 一种高精度颗粒物质量浓度检测装置 |
| 摘要： | 本发明提出一种高精度颗粒物质量浓度检测装置，包括激光发射单元、激光检测单元，激光发射单元包括一片学透镜，光学透镜一面为光轴对称的非球面作为入射面用于准直，另一面为圆柱面作为出射面用于会聚，可将激光光束整形为线形光束；一方面克服了以往采用聚焦透镜，激光光束被聚焦为点光束，能量分布不均匀导致测量不准确的的技术缺陷，消除了不同粒径颗粒物之间的测量干扰，实现不同粒径颗粒物的同时测量；另一方面克服了以往采用两片光学透镜，透镜间存在一定的距离导致光路调试复杂的技术缺陷，简化了结构、降低了光路调试难度及节约了制造成本；无需昂贵的气泵，适于大批量推广应用。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉四方光电科技有限公司 |
| 发明人： | 熊友辉;刘志强;何涛;黄铮;杨伟;周盟 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811445502.X |
| 公开号： | CN109406356A |
| 代理机构： | 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 |
| 代理人： | 郝明琴 |
| 分类号： | G01N15/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15 |
| 申请人地址： | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区凤凰产业园凤凰园三路3号 |
| 主权项： | 1.一种高精度颗粒物质量浓度检测装置，包括激光发射单元和激光检测单元，其特征在于：所述激光发射单元包括光源和光学透镜，所述光源产生的光束经光学透镜整形后形成线形光束，所述激光检测单元接收经过线形光束的颗粒物，并输出对应的检测信号。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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