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原文传递 一种火花直读光谱仪测量分析系统
专利名称: 一种火花直读光谱仪测量分析系统
摘要: 本发明公开了一种火花直读光谱仪测量分析系统,包括数据采集模块、整合模块、数据分析模块、梳理模块、控制器、显示模块、显示屏、数据处理模块、信息互联模块、存储模块、电压传感器、数据计算模块、警示模块、报警器和警示灯;本发明中的数据分析模块用于接收分析信号,并将经分析后获取到的Wj和Ej传输至梳理模块,梳理模块在接收到Wj和Ej时,将Ej与预设值e相比较,当满足Ej大于等于e时,将与Ej相对应的元素生成标记信号,并和Wj一同经由控制器传输至显示模块,显示模块在接收到标记信号和Wj时,将Wj通过显示屏进行显示,同时将标记信号中与Ej相对应的元素进行标记,使得工作人员能够了解到检测过程中的异常数据。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 安徽;34
申请人: 郎溪杰博电器科技有限公司
发明人: 沈云峰;沈永水
专利状态: 有效
申请号: CN201811644192.4
公开号: CN109406417A
代理机构: 北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙) 11390
代理人: 胡剑辉
分类号: G01N21/27(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 242199 安徽省宣城市郎溪县经济开发区
主权项: 1.一种火花直读光谱仪测量分析系统,其特征在于,包括数据采集模块、整合模块、数据分析模块、梳理模块、控制器、显示模块、显示屏、数据处理模块、信息互联模块、存储模块、电压传感器、数据计算模块、警示模块、报警器和警示灯;所述数据采集模块用于采集CMOS元件中的数据信息,且数据信息包括元素含量、工作时长、氩气压力和放电频率,所述数据采集模块用于将采集的数据信息传输至整合模块;所述整合模块用于接收数据采集模块中的数据信息,并将数据信息中的元素含量生成分析信号传输至数据分析模块;所述数据分析模块在接收到整合模块中传输的分析信号后,即开始进行分析操作,具体步骤如下:步骤一:获取到分析信号中,每块CMOS元件测出的各元素含量,并将其标定为Qij,i=1...n,j=1...m;步骤二:先根据公式来求得每块CMOS元件测出的各元素平均含量,再根据公式来求得每块CMOS元件测出的各元素含量的离散系数;所述数据分析模块在获取到Wj和Ej时,将其传输至梳理模块,且Wj和Ej中所指代的元素一一对应;所述梳理模块在接收到数据分析模块中传输的Wj和Ej后,将Ej与预设值e相比较,当满足Ej大于等于e时,将与Ej相对应的元素生成标记信号,并和Wj一同经由控制器传输至显示模块;所述显示模块用于接收梳理模块中传输的标记信号和Wj,并将Wj通过显示屏进行显示,同时将标记信号中与Ej相对应的元素进行标记;所述整合模块用于接收数据采集模块中的数据信息,并将数据信息中的工作时长、氩气压力和放电频率一同生成处理信号传输至数据处理模块;所述数据处理模块在接收到整合模块中传输的处理信号后,即开始进行处理操作,具体步骤如下:步骤一:获取到第一时间段内的处理信号中,CMOS元件的总工作时长,并将CMOS元件的总工作时长依次分为第一时间级、第二时间级和第三时间级三个档次,同时依据CMOS元件的总工作时长来标定时间系数R,具体标定过程如下:S1:获取到第一时间段内的处理信号中,CMOS元件的总工作时长,并对其进行赋值;S2:当CMOS元件的总工作时长为第一时间级时,此时R=A1;S3:当CMOS元件的总工作时长为第二时间级时,此时R=A2;S4:当CMOS元件的总工作时长为第三时间级时,此时R=A3,而A1、A2和A3均为预设值且A1大于A2大于A3;步骤二:获取到第一时间段内的处理信号中,CMOS元件检测到的火花直读光谱仪的氩气压力,并将氩气压力位于预设范围q之外的总时长依次分为第一时间节、第二时间节和第三时间节三个档次,同时依据氩气压力位于预设范围q之外的总时长来标定气压系数T,具体标定过程如下:S1:获取到第一时间段内的处理信号中,氩气压力位于预设范围q之外的总时长,并对其进行赋值;S2:当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第一时间节时,此时T=B1;S3:当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第二时间节时,此时T=B2;S4:当氩气压力位于预设范围q之外的总时长为第三时间节时,此时T=B3,而B1、B2和B3均为预设值且B1大于B2大于B3;步骤三:获取到第一时间段内的处理信号中,CMOS元件检测到的火花直读光谱仪的放电频率,并将放电频率位于预设范围w之外的总时长依次分为第一时间流、第二时间流和第三时间流三个档次,同时依据放电频率位于预设范围w之外的总时长来标定频率系数Y,具体标定过程如下:S1:获取到第一时间段内的处理信号中,放电频率位于预设范围w之外的总时长,并对其进行赋值;S2:当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第一时间流时,此时Y=C1;S3:当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第二时间流时,此时Y=C2;S4:当放电频率位于预设范围w之外的总时长为第三时间流时,此时Y=C3,而C1、C2和C3均为预设值且C1大于C2大于C3;步骤四:将上述步骤一至步骤三中的时间系数R、气压系数T和频率系数Y对使用精度的影响占比进行权重分配,依次分配为预设值u、o和p,且u小于o小于p,同时依据公式D=R*u+T*o+Y*p来求得第一时间段内,火花直读光谱仪的工作系数;其中,第一时间段界定为上周第一天至上周最后一天之间的间隔时间,所述数据处理模块在获取到D时,将其传输至梳理模块;所述梳理模块在接收到数据处理模块中传输的D后,将D与预设值d相比较,当D大于等于预设值d时,将与D相对应的R、T和Y一同生成检修信号,并经由控制器传输至信息互联模块和存储模块;所述信息互联模块用于接收梳理模块中传输的检修信号,并将检修信号中与D相对应的R、T和Y发送至检修人员的手机中进行显示,所述信息互联模块与检修人员的手机之间通信连接;所述存储模块在接收到梳理模块中传输的检修信号时,将检修信号中与D相对应的R、T和Y生成检修记录表进行存储。
所属类别: 发明专利
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