原文传递
一种可同时测量热电参数和霍尔系数的测量系统及方法
| 专利名称： | 一种可同时测量热电参数和霍尔系数的测量系统及方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种可同时测量热电参数和霍尔系数的测量系统及方法，系统包括样品台、测试芯片、待测样品、永磁体、数据采集及测量模块，所述待测样品设置于所述测试芯片中，所述测试芯片位于所述样品台中；所述永磁体位于所述样品台的一侧，用于给所述样品台中的待测样品提供测试磁场；所述数据采集及测量模块通过测试芯片与待测样品电连接，用于给待测样品提供测试电流以及用于测量待测样品的电参数；所述测试芯片包括用于测量待测样品两端温度的温度计以及用于给待测样品其中一端进行加热的加热器。本发明将Seebeck系数、电阻率和霍尔系数测量集成到同一个装置上，同一个待测样品的这三个物理量在变温过程中一次测量完成。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉嘉仪通科技有限公司 |
| 发明人： | 缪向水;张军;林凯明;陈子琪;童浩;蔡颖锐;王愿兵;李小平 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811244447.8 |
| 公开号： | CN109406569A |
| 代理机构： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 |
| 代理人： | 张涛 |
| 分类号： | G01N25/20(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N25 |
| 申请人地址： | 430206 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号 |
| 主权项： | 1.一种可同时测量热电参数和霍尔系数的测量系统，其特征在于，包括样品台、测试芯片、永磁体、数据采集及测量模块，待测试的待测样品设置于所述测试芯片中，所述测试芯片位于所述样品台中；所述永磁体位于所述样品台的一侧，用于给所述样品台中的待测样品提供测试磁场；所述数据采集及测量模块通过测试芯片与待测样品电连接，用于给待测样品提供测试电流以及用于测量待测样品的电参数；所述测试芯片包括用于测量待测样品两端温度的温度计以及用于给待测样品其中一端进行加热的加热器。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
