专利名称: |
恒温装置和具有该恒温装置的分析装置 |
摘要: |
提供恒温装置和具有该恒温装置的分析装置,能够抑制装置大型化和功耗增加、对试样容器进行恒温保持、并且在冷却时将冷凝水容易地排出。恒温装置(20)对保持试样的多个试样容器(50)进行恒温保持,所述恒温装置具有:试样架(21),其收容并保持多个试样容器,并且相对于恒温装置装卸自如;以及导热部件(23),其被控制为恒定温度,向试样容器传递热,在试样架上形成有开口部(21h),在将试样架安装于恒温装置时,形成导热部件的一部分的接触部(23f)穿过开口部而与试样容器直接接触、或与从开口部突出的试样容器直接接触。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
日本株式会社日立高新技术科学 |
发明人: |
森崎敦己;山本浩司;伊藤正人 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201810955251.3 |
公开号: |
CN109425524A |
代理机构: |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人: |
黄纶伟;孙明浩 |
分类号: |
G01N1/28(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N1 |
申请人地址: |
日本东京都 |
主权项: |
1.一种恒温装置,其对保持试样的多个试样容器进行恒温保持,其特征在于,所述恒温装置具有:试样架,其收容并保持所述多个试样容器,并且相对于所述恒温装置装卸自如;以及导热部件,其被控制为恒定温度,向所述试样容器传递热,在所述试样架上形成有开口部,在将所述试样架安装于所述恒温装置时,形成所述导热部件的一部分的接触部穿过所述开口部而与所述试样容器直接接触,或与从所述开口部突出的所述试样容器直接接触。 |
所属类别: |
发明专利 |