专利名称: |
基坑监测系统 |
摘要: |
本发明公开了一种基坑监测系统,属于基坑施工技术领域,其技术方案要点是包括基坑图像采集模块、信息存储模块、工程信息添加模块、MCU处理模块和输出显示模块,基坑图像采集模块、信息存储模块与工程信息添加模块将基坑的位置信息、检测器的安装位置计算公式与工程信息传输给MCU处理模块,MCU处理模块经过处理得出所有检测器的安装位置信息,输出显示模块将安装位置信息进行显示,解决了基坑监测时检测器的安装位置不好确定的问题,达到了只需要输入当前工程信息即可快速对所有检测器的安装位置进行定位,定位准确,安装快速的效果。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
上海市岩土地质研究院有限公司 |
发明人: |
叶尚莹;董文良;方超 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201811184966.X |
公开号: |
CN109440834A |
代理机构: |
北京维正专利代理有限公司 11508 |
代理人: |
谢绪宁;薛赟 |
分类号: |
E02D33/00(2006.01)I;E;E02;E02D;E02D33 |
申请人地址: |
200040 上海市静安区灵石路930号 |
主权项: |
1.一种基坑监测系统,其特征在于,包括:基坑图像采集模块(4),所述基坑图像采集模块(4)采集整个基坑及周边的位置信息并以坐标系形式输出;信息存储模块(3),所述信息存储模块(3)用于存储各个检测器的安装位置计算公式,信息存储模块(3)能够输出安装位置计算公式;工程信息添加模块(1),所述工程信息添加模块(1)用于工作人员输入当前工程信息,工程信息添加模块(1)能够将工程信息输出;MCU处理模块(5),所述MCU处理模块(5)连接基坑图像采集模块(4)、信息存储模块(3)和工程信息添加模块(1),并且MCU处理模块(5)接收基坑图像采集模块(4)、信息存储模块(3)和工程信息添加模块(1)输出的位置信息、安装位置计算公式和工程信息,MCU处理模块(5)根据工程信息在安装位置计算公式中找出待安装的检测器的安装位置计算公式,MCU处理模块(5)根据位置信息和安装位置计算公式计算出待安装的检测器的安装位置并以坐标系的形式输出;输出显示模块(6),所述输出显示模块(6)连接MCU处理模块(5)并且接收MCU处理模块(5)输出的安装位置信息,输出显示模块(6)将不同检测器的安装位置信息分别进行显示。 |
所属类别: |
发明专利 |