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原文传递漫反射光谱测量装置及测量方法

专利名称：	漫反射光谱测量装置及测量方法
摘要：	一种漫反射光谱测量装置及测量方法，包括：测量台，用于放置待测样品，其台面包含有孔径可调节的测量口；准直出射光源组，置于所述测量台内，用于发出空间准直并且均匀分布的平行光，所述平行光经通过测量口后照射待测样品；起偏器，设置于所述准直出射光源与待测样品之间，用于入射光偏振态改变；漫反射收集透镜组，其工作角度可调，焦距可调，包含有双透镜，用于收集待测样品被准直出射光源发出的平行光照射后形成的漫反射光；检偏器，设置于待测样品与所述漫反射收集透镜组之间，用于检测待测样品的漫反射光的偏振态；以及光纤，用于将所述漫反射收集透镜组收集到的漫反射光耦合并导入光谱分析仪器，完成待测样品的漫反射光谱的测量。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	天津;12
申请人：	天津九光科技发展有限责任公司
发明人：	李晨曦;徐可欣;李胜;赵丕成;汤海涛
专利状态：	有效
申请号：	CN201811570628.X
公开号：	CN109444082A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人：	李坤
分类号：	G01N21/47(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	300384 天津市西青区滨海高新区华苑产业区兰苑路5号A座402
主权项：	1.一种漫反射光谱测量装置，包括：测量台，用于放置待测样品，其台面包含有孔径可调节的测量口；准直出射光源组，置于所述测量台内，用于发出空间准直并且均匀分布的平行光，所述平行光经通过测量口后照射待测样品；起偏器，设置于所述准直出射光源与待测样品之间，用于入射光偏振态改变；漫反射收集透镜组，其工作角度可调，焦距可调，包含有双透镜，用于收集待测样品被准直出射光源发出的平行光照射后形成的漫反射光；检偏器，设置于待测样品与所述漫反射收集透镜组之间，用于检测待测样品的漫反射光的偏振态；以及光纤，用于将所述漫反射收集透镜组收集到的漫反射光耦合并导入光谱分析仪器。
所属类别：	发明专利