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一种用于批量测试的二维阵列进样装置
| 专利名称： | 一种用于批量测试的二维阵列进样装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于批量测试的二维阵列进样装置。该进样装置中的支架采用组合式多层布局，每层支架上等距分布相同结构的样品安装槽，样品安装槽内安装样品插片，实验中可根据样品数量调整支架。该进样装置采用样品插片固定样品，能够保证不同尺寸的样品与限束光阑上的限束光阑孔同心，限束光阑孔采用锥形孔能够降低入射光束的本底。通过驱动二维运动台对进样装置进行二维平移操作，即可逐一对样品进行测试。本发明的用于批量测试的二维阵列进样装置解决了大量样品的快速测量问题，能够实现中子小角散射实验所需的批量薄片样品材料内部微观结构测试分析，避免复杂操作和频繁换样，提高材料分析测试的效率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 |
| 发明人： | 孙良卫;张昌盛;闫冠云;陈良;彭梅;刘栋;孙光爱 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811531146.3 |
| 公开号： | CN109444188A |
| 代理机构： | 中国工程物理研究院专利中心 51210 |
| 代理人： | 翟长明;韩志英 |
| 分类号： | G01N23/202(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 621999 四川省绵阳市919信箱217分箱 |
| 主权项： | 1.一种用于批量测试的二维阵列进样装置，其特征在于：所述的进样装置包括支架（1）、样品插片（5）和限束光阑（2）；所述的支架（1）由竖直叠加的m层长条状进样条组成，m≥1，各层之间通过定位栓固定，每层长条状进样条上有均布的n个样品安装槽（3），n≥10，m×n个样品插片（5）分别插入到样品安装槽（3）中；支架（1）通过位于支架（1）底部的底座（4）固定在二维运动台上；所述的样品插片（5）为长方体，长方体的顶面中心开有顶方孔（6），样品从顶方孔（6）插入样品插片（5），在长方体的垂直厚度方向开有光阑孔（7），光阑孔（7）为通孔，样品的中心与光阑孔（7）的中心重合，样品从光阑孔（7）露出；所述的限束光阑（2）为薄板，从一侧包覆支架（1），限束光阑（2）上开有与样品插片（5）的光阑孔（7）一一对应的限束光阑孔。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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