专利名称: |
自动分析系统和方法 |
摘要: |
本公开的方面包括样品分析方法和系统。根据某些实施例,提供了在自动化样品分析系统中分析样品的方法。该方法包括将样品和样品制备盒引入系统,在样品制备站分离和纯化样品中存在的分析物(例如,核酸和/或蛋白质),并在包括纯化的分析物的测定混合物中进行分析物检测测定。还提供了自动化样品分析系统,其可用于例如执行本公开的方法。在某些方面,所述方法和系统在补充或移除样品、散装流体、试剂、物件、废物等中的一种或任何组合期间提供连续的操作者访问。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
美国;US |
申请人: |
雅培分子公司 |
发明人: |
J·E·布尔扬特;D·P·卡萨萨;D·J·哈里斯;F·保罗斯克;M·泰尔摩尔;B·W·约翰逊;S·S·娜娜;T·J·帕特诺;D·M·彼得斯;J·P·斯金纳 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201780026880.1 |
公开号: |
CN109477849A |
代理机构: |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人: |
张小勇 |
分类号: |
G01N35/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N35 |
申请人地址: |
美国伊利诺斯 |
主权项: |
1.一种在自动样品分析系统中连续分析样品的方法,包括:将样品和样品制备(SP)盒装入系统;在包含两个或更多SP盒散装试剂加注位置的SP盒散装试剂加注站中给SP盒加注散装试剂;将样品移液到SP盒样品加注站的SP盒中,所述SP盒样品加注站包括两个或更多个SP盒样品加注位置;通过在包含两个或更多个SP盒样品制备位置的样品制备站处分离和纯化样品中存在的分析物来制备SP盒中的样品用于分析;将纯化的分析物与测定试剂合并以形成测定混合物;和对测定混合物进行分析物检测测定以分析样品,其中,在不停止系统操作的情况下,系统的操作者可以连续访问系统以补充或去除样品、散装流体、试剂、物件和废物中的一种或任何组合。 |
所属类别: |
发明专利 |