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一种复磁导率测试制样模具及应用方法
| 专利名称： | 一种复磁导率测试制样模具及应用方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种复磁导率测试制样模具及应用方法，以解决现有模具各部分配合不恰当、不易拆卸、易发生相对滑动导致成品率低的问题，本发明提供的一种复磁导率测试制样模具及应用方法，模具结构包括上盖板、中间环、底板、定位轴，上盖板、底板均为凹形，上盖板中心设置有中间杆，所述上盖板、底板凹槽面相对，上盖板、底板将中间环夹紧固定，应用方法步骤包括安装、填料、加热、拆卸模具、样品处理，本发明提供的模具及应用方法具有制样样品厚度可控、误差小、样品容易从模具中取出，节约模具制样时间的优势。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海传输线研究所(中国电子科技集团公司第二十三研究所) |
| 发明人： | 吉玉玲;王磊;王海玉;王增辉;纪延磊 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811218727.1 |
| 公开号： | CN109470542A |
| 代理机构： | 上海市嘉华律师事务所 31285 |
| 代理人： | 黄琮;夏烨 |
| 分类号： | G01N1/36(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N1 |
| 申请人地址： | 201901 上海市杨浦区逸仙路135号 |
| 主权项： | 1.一种复磁导率测试制样模具，包括上盖板(1)、中间环(2)、底板(3)、定位轴(4)，其特征在于：所述上盖板(1)、底板(3)均为凹形，所述上盖板(1)中心设置有中间杆(9)，所述上盖板(1)、底板(3)凹槽面相对，所述中间环(2)与所述上盖板(1)、底板(3)凹槽部分配合置于中间，所述上盖板(1)、底板(3)将中间环(2)夹紧固定，所述上盖板(1)、中间环(2)、底板(3)中心设置有开孔且所述定位轴(4)置于该开孔处，所述中间杆(9)外径小于所述中间环(2)开孔内径，所述中间杆(9)与中间环(2)之间的空隙为溢料口(10)，所述中间杆(9)和定位轴(4)、中间环(2)及底板(3)之间的空隙处为放料处(7)。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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