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原文传递片状粉体径厚比的测量方法

专利名称：	片状粉体径厚比的测量方法
摘要：	一种片状粉体径厚比的测量方法，涉及测量技术领域。该片状粉体径厚比的测量方法包括以下步骤：提供能够在液态和固态之间转换的承载体；将片状粉体分散于液态的承载体表面，随后使液态的承载体转换至固态；测量固态的承载体上的片状粉体并计算。本发明提供的片状粉体径厚比的测量方法不仅操作简单方便，且能够使片状粉体分层有序排列，从而快速高效的获得准确的测量数据。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	航天科工武汉磁电有限责任公司
发明人：	潘金杰;余争鸣;甘丹;毛晶晶;万志红
专利状态：	有效
申请号：	CN201811394036.7
公开号：	CN109490152A
代理机构：	北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371
代理人：	杨志廷
分类号：	G01N15/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区华光大道5-2号
主权项：	1.一种片状粉体径厚比的测量方法，其特征在于，其包括以下步骤：步骤一：提供能够从液态转换成固态的承载体；步骤二：将片状粉体分散于液态的所述承载体表面，随后使液态的所述承载体转换至固态；步骤三：测量固态的所述承载体上的片状粉体并计算。
所属类别：	发明专利