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基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法
| 专利名称： | 基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法，其包括以下步骤：S1、获取不同腐蚀程度绝缘子金具的等离子体光谱数据；S2、对等离子体光谱数据进行预处理；S3、获取绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型；S4、获取待检测绝缘子金具的等离子体光谱并进行预处理；S5、将预处理后的待检测绝缘子金具的等离子体光谱数据作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型的输入数据，得到待检测绝缘子金具的腐蚀程度，完成绝缘子金具的腐蚀检测。该方法实现了对绝缘子端部金具腐蚀问题快速、准确、非接触的检测，相对于传统检测方法，实现了在线检测，检测流程简单，结果可靠，大大简化了检测过程。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 西南交通大学 |
| 发明人： | 张血琴;高润明;郭裕钧;吴广宁;刘凯;李院生;石超群;康永强;张广全;刘毅杰 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201811573081.9 |
| 公开号： | CN109490280A |
| 代理机构： | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 |
| 代理人： | 陈选中 |
| 分类号： | G01N21/71(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 610031 四川省成都市二环路北一段 |
| 主权项： | 1.一种基于激光诱导击穿光谱技术的绝缘子金具腐蚀检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、通过激光诱导击穿光谱系统轰击已知腐蚀程度的绝缘子金具样品，获取不同腐蚀程度绝缘子金具的等离子体光谱数据；S2、对获取的等离子体光谱数据进行预处理，得到预处理后的数据；S3、将预处理后的数据和对应的腐蚀程度作为训练神经网络的样本，得到绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型；S4、采用与步骤S1相同的方法获取待检测绝缘子金具的等离子体光谱，并采用与步骤S2相同的方法对待检测绝缘子金具的等离子体光谱进行预处理；S5、将预处理后的待检测绝缘子金具的等离子体光谱数据作为绝缘子金具与其腐蚀程度对应关系的评估模型的输入数据，得到待检测绝缘子金具的腐蚀程度，完成绝缘子金具的腐蚀检测。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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