专利名称: |
高速管道检验系统 |
摘要: |
本公开涉及一种高速管道检验系统。本公开涉及用于扫描细长结构方法、设备和系统。使用扫描系统中的平移结构使所述扫描系统中的扫描器沿着所述细长结构轴向地移动。在所述扫描器沿着所述细长结构轴向地移动时使用由所述扫描器发射的x射线束轴向地扫描所述细长结构以执行轴向扫描。所述x射线束具有第一取向。在轴向地扫描所述细长结构的同时检测所述细长结构上具有不一致性的位置。用第二取向下的所述x射线束扫描所述位置处的所述细长结构。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
美国;US |
申请人: |
波音公司 |
发明人: |
G·E·乔治森;M·萨法伊 |
专利状态: |
有效 |
申请号: |
CN201810782268.3 |
公开号: |
CN109490331A |
代理机构: |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人: |
王小东 |
分类号: |
G01N23/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
美国伊利诺伊州 |
主权项: |
1.一种扫描系统(106),该扫描系统(106)包括:平移结构(110),所述平移结构(110)被配置成沿着细长结构(102)轴向地移动;扫描器(112),所述扫描器(112)连接到所述平移结构(110),其中所述扫描器(112)被配置成利用x射线束(130)来扫描所述细长结构(102),所述x射线束(130)被配置成具有第一取向(132)和大致垂直于所述第一取向(132)的第二取向(134);以及控制器(114),所述控制器(114)与所述平移结构(110)和所述扫描器(112)通信,其中所述控制器(114)在所述扫描器(112)使用所述第一取向(132)下的所述x射线束(130)执行所述细长结构(102)的轴向扫描(124)的同时,控制所述平移结构(110)沿着所述细长结构(102)轴向地移动,并且当在所述轴向扫描(124)中在所述细长结构(102)上的一位置(108)处检测到不一致性(108)时,使用所述第二取向(134)下的所述x射线束(130)执行所述细长结构(102)的第二扫描(136)。 |
所属类别: |
发明专利 |